JX-100_程序员、管理员.pdf - 第203页
第 2 章 制作生产程序 根据尺寸计算出的激光高度或 芯片站立判定高度与原来的 值不同时，显示如下询问。 图 2-5-4-2-9 询问是否更新激光高度 图 2-5-4-2- 10 询问是否更新 芯片站立判定高度 ●是 ：用测量的新数据覆盖原来的设置值。 ●否 ：忽略新测量值，使用原来的设定值。 2- 147
第 2 章 制作生产程序
② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，并
依次显示进行中的处理内容。
图 2-5-4-2-6 正在进行单独检测
要强行结束
检测
时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 2-5-4-2-7 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是放
回、或是废弃。
图 2-5-4-2-8 确认是否放回元件
2-146
第 2 章 制作生产程序
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 2-5-4-2-9 询问是否更新激光高度
图 2-5-4-2-10 询问是否更新芯片站立判定高度
●是
：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否
：忽略新测量值，使用原来的设定值。
2-147
第 2 章 制作生产程序
③ 单独检测结果
单独检测结束后，显示如下的结果画面。
图 2-5-4-2-11 单独
检测
结果
a) 检测完元件
显示元件内容及吸取位置。
b) 检测结果
显示检测结果的值。( )内显示原来的元件数据值。
未进行检测的项目显示***。
c) 确定(F8键)
使检测结果生效，将结果值储存到元件数据中。然后返回原来的单独检测条件的设置画面。
d) 取消(ESC键)
使检测结果无效，然后返回原来的单独检测条件的设置画面。
e) 再
检测
(F10键)
再次以相同的条件进行检测。
f) 变幻线
从激光单元取得测量(SWEEP)数据，以图表（变幻线）显示元件的轮廓。
2-148