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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 ③ 单独测量结果 单独测量结束后 ，显示如下的结果画 面。 图 4.5.4.2.3-8 单独测量结果 (1) 检测 完元 件 显示元件内容及 吸取位置。 (2) 检测结果 显示测量结果的 值。 ( ) 内显示原 来的元件数据值。 未进行测量的项 目显示 *** 。 (3) 确定 ( F8 键 ) 使测量结果生效 ， 将结果值储存 到元件数据中。 然后返回原来 的单独测量条件的设置画 面。 (…
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4.5.4.2.3-6 询问是否更新激光高度
图 4.5.4.2.3-7 询问是否更新芯片站立判定高度
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
③ 单独测量结果
单独测量结束后，显示如下的结果画面。
图 4.5.4.2.3-8 单独测量结果
(1) 检测完元件
显示元件内容及吸取位置。
(2) 检测结果
显示测量结果的值。( )内显示原来的元件数据值。
未进行测量的项目显示***。
(3) 确定(F8键
)
使测量结果生效，将结果值储存到元件数据中。然后返回原来的单独测量条件的设置画
面。
(4) 取消(ESC键)
使测量结果无效，然后返回原来的单独测量条件的设置画面。
(5) 再测量(F10键)
再次以相同的条件进行测量。
(6) 变幻线
从激光单元取得测量(SWEEP)数据，以图表（变幻线）显示元件的轮廓。
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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
2) 连续测量
测量所有指定的元件。
① 设置连续测量条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“连续检测”，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-9 设置连续测量条件
(1) 测量对象元件
设置对元件数据中有某一条件一致的元件进行测量。
● 全元件
测量所有的元件数据。
● 薄元件
仅测量元件高度在设定尺寸以下的元件。
● 指定元件类型
仅测量指定的元件类别。
● 指定吸嘴号
仅测量指定要使用的吸嘴元件。
● 激光定中心元件
仅测量进行激光定中心的元件。
● 外观定中心元件
仅测量进行外观定中心的元件。
(2) 测量范围
把被检元件的条件，设置为特定编号的元件。
● 开始元件号：选中开始的被检元件数据编号。
● 结束元件号：选中结束测量的被检元件数据编号。
● 只限贴片元件：只选中贴片数据指定的元件数据。
仅 KE-1080
可选择。
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