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7 Visionsysteme Betriebsanleitung SIPLACE 80 S/F/G 7.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Ausgabe 07/97 ab Softwareversion SR.010.xx 7 - 104 Einric hter – Sind die Bauelem ente größ er als 32 m m x 32 mm, so wir…
Betriebsanleitung SIPLACE 80 S/F/G 7 Visionsysteme
Ausgabe 07/97 ab Softwareversion SR.010.xx 7.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
Einrichter 7 - 103
7.7.3 Bauformen und mögliche Meßmethoden zur Grob- (G) und Fein-
zentrierung (F)
*) LEAD mit kombinierten Auswertefenstern für jede PIN-Reihe ersetzt die CORNER-Meßmethode.
Die Messung der Teilung wird durch eine Messung der (normierten) Beinchenabweichung ersetzt.
Sind einer oder mehrere der Resultatswerte außerhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt.
Wird das Bauelement korrekt zentriert, kann auf zusätzliche Meßmethoden verzichtet werden. Führen Sie
dennoch alle Grobzentrierschritte aus, da diese die Meßfenster verkleinern.
–
Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE prüfen’ in den
einzelnen Meßschritten ohne Ausgabe der Meßresultate durchgeführt.
–
Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE messen’ in
allen Meßschritten mit Ausgabe von Meßresultaten durchgeführt.
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead *)
Kombinierte
Lead Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letztes Meßschritts
PDC ohne Beinchen G/F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
G F (F)
Max. Abweichung von der Teilung:
∆
X,
∆
Y,
∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit
langen PIN-Reihen
G F (F)
Max. Abweichung von der Teilung:
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
),
Qualität
FDC
un
regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
G(G)F(F)
∆
X,
∆
Y, Anzahl PINs (Qualität)
max. Abweichung der Teilung
FDC unregelmäßig mit
langen PIN-Reihen
G(G)F(F)
∆
X,
∆
Y, Anzahl PINs (Qualität)
max. Abweichung der Teilung
FDC unregelmäßig mit
einer PIN-Reihe, meh-
reren PIN-Modellen
oder Teilung
GGF
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), normierte Beinchen-
abweichung (Qualität)
Anzahl PINs Sekundäroffset
FDCs mit kreisseg-
mentförmigen PIN-
Anordnungen
(G) G F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), normierte Beinchen-
abweichung (Qualität)
Anzahl PINs Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), Teilung,
Winkel,
Qualität)
Tab. 7.7.1 Meßmethoden für Bauelemente
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7.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Ausgabe 07/97 ab Softwareversion SR.010.xx
7 - 104 Einrichter
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Sind die Bauelemente größer als 32mm x 32mm, so wird automatisch eine Mehrfachmessung im
Visionsystem durchgeführt.
7.7.4 GF-Testen - Optische Darstellung / Meßarten programmieren
Im Menü ’BE testen’ wird ein abgeholtes Bauelement in seine 0°-Lage zur Kamera gebracht und abgebildet.
Am Revolverkopf der S-15/F3 wird das Bauelement in Bezug auf den Bestückwinkel dargestellt.
Abb. 7.7.5 Reihenfolge, wie Gehäuseformen an der Station programmiert werden
Nein
BE messen
Fehler
Ja
Wiederholen der Messung und
Meßergebnisse betrachten
Ergebnisse konstant ?
Ja
BE mehrmals bestücken
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
Im allgemeinen müssen nur
wenige Bauelemente verändert
werden.
8. Kontrastempfindlichkeit verän-
dern (Tafel programmieren)
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
5. Bauteildimensionen verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
3. Beleuchtung verändern
2. BE darstellen
1. Hantierfehler: Abholwinkel,
Pipettentyp, BE an Pipette ?
Nein
BE messen
„RETURN“ nächste Messung
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Einrichter 7 - 105
7.7.5 Parameter der Meßmethoden
Mögliche Sequenzen der Meßmethoden
Es ist möglich, auch andere Sequenzen zu programmieren, wie beispielsweise Corner, gefolgt von Lead oder
nur Lead. Solche Kombinationen sind allerdings sehr ungewöhnlich. Wird das Bauelement im GF-Editor defi-
niert, so werden die Meßmethoden bereits vorbelegt. In einigen Fällen kann es jedoch notwendig werden, die
Meßmethoden an der Station zu ändern, damit sich das Bauelement optisch zentrieren läßt.
Die Meßergebnisse der letzten Messung werden immer gespeichert. Die zuvor ausgeführte Messung ist ein
Grobzentrierschritt für die nachfolgende Messung und dient so zum Verkleinern der Meßfenster.
Je mehr Meßmethoden verwendet werden, desto länger dauert der gesamte Meßvorgang. Viele Meßmetho-
den für ein Bauelement können zu einer Verzögerung des Kopfzyklus führen. Dies gilt insbesondere für den
Revolverkopf in SIPLACE 80S-15 und F3 - Automaten.
PDC/
FDC
FDC FDC FDC FDC FDC
Flip-
Chips
S15
Flip-
Chips
F3
Ball
Grid
Array
Size Size Size Size Row Row Size Size Size
Lead Corner Corner Corner Corner Grid Grid
Lead Lead Ball Ball
T
ab. 7.7.2 Mögliche Sequenzen der Meßmethoden