NXT 编程手册 QD025-09.pdf - 第57页
QD025-09 4. 元件数据设置 NXT 编程手册 47 4.5 关于 P_pattern P_pattern 指定引 脚在影像处理系统 中显示方式以 及元件的引脚 信息是如何执 行的。另外， 需要注意所指定 的 P_pattern 的不 同会对贴装位 置产生影响。 4.5.1 在 NXT 机中使用 P_pattern 带有前光系统的 N XT 机可使用的 P_ pattern 如下。 P_ patt ern 元件举例 说明 引脚的…
4. 元件数据设置 QD025-09
46 NXT 编程手册
Row Pitch （行间距）
设置料盘行之间的间距。
Column Quantity （列数量）
设置料盘的列数量。
Row Quantity （行数量）
设置料盘的行数量。
4.4.4 封装处理详情
料带
选择 NXT 机所使用的料带封装时，不显示设置操作进程。
料盘
Tray Type （料盘类型）
设置所使用的料盘类型。
Tray Cavity Information （料盘凹槽信息）
设置料盘的凹槽信息 （例如哪些凹槽有元件，哪些凹槽没有元件等）。
设置值 说明
Matrix-Dump 目前尚不支持。
No Matrix-Dump 在 NXT 机上无法使用。
No Matrix 不自动排出料盘。若使用铝制或用户自制的料盘时，因料盘过
重，真空吸盘无法将其吸上来。这时选择此模式，手动更换料
盘。如果机器吸取元件失败，将试图在指定补件时间内从相同
位置吸取元件。如果吸取动作依然失败，机器就从下一个吸取
位置执行吸取动作。
Ref Cavity Info-
Dump
目前尚不支持。
Ref Cavity Info 为吸取信息在 [Tray Cavity Information] 项目中设置了此项
目。同选择了 “No Matrix”一样，元件料尽后需手动将料盘
取下。
QD025-09 4. 元件数据设置
NXT 编程手册 47
4.5 关于 P_pattern
P_pattern 指定引脚在影像处理系统中显示方式以及元件的引脚信息是如何执行的。另外，
需要注意所指定的 P_pattern 的不同会对贴装位置产生影响。
4.5.1 在 NXT 机中使用 P_pattern
带有前光系统的 NXT 机可使用的 P_pattern 如下。
P_
patt
ern
元件举例 说明 引脚的显
示方式
1 Bump parts
（锡球元
件）
主体为白色的元件
2 Bump parts
Column
parts
（锡球元
件、列元
件）
主体为黑色的元件
4 SOIC 进行引脚先端和横向的检测，将其结果作为位
置信息使用。类型 12 和 14 不需要使用引脚的
纵向位置信息。
SOJ 虽然引脚先端的显示效果不佳，但可用于获得
引脚纵向位置信息。类型 12 不需要使用引脚
的纵向位置信息。
6 LCC 对向元件主体内部延伸的引脚的先端和横向进
行检测，并将其结果作为位置信息使用。
12 PLCC 因为引脚先端显示效果不佳，所以仅用于获得
引脚纵向位置信息。某些情况下使用类型 14
进行处理可能会更稳定。
14 QFP 虽然进行引脚先端和横向的检测，但因正确计
算出引脚横向位置极其重要，故仅将横向检测
结果作为位置信息使用。
16 LCC 虽然对向元件主体内部延伸的引脚的先端和横
向进行检测，但因正确计算出引脚横向位置极
其重要，故仅将横向检测结果作为位置信息使
用。
4. 元件数据设置 QD025-09
48 NXT 编程手册
4.5.2 NXT 机不支持的 P_pattern
由于背景条件或背光的使用，以下的 P_pattern 设置在 NXT 机上为无效。
P_
patt
ern
元件举例 说明 引脚的显
示方式
24 SOJ 仅使用在白背景下。进行引脚先端和横向的检
测，将其结果作为位置信息使用。类型 34 不
将引脚纵向的检测结果用于位置检测。
34 PLCC 仅使用在白背景下。虽然进行引脚先端和横向
的检测，但因正确计算出引脚横向位置极其重
要，故仅将横向检测结果作为位置信息使用。
3 SOIC 仅使用在背光下。进行引脚先端和横向的检
测，将其结果作为位置信息使用。类型 11 和
13 不需要使用引脚的纵向位置信息。
SOT 仅使用在背光下。进行引脚先端和横向的检
测，将其结果作为位置信息使用。类型 11 和
13 不需要使用引脚的纵向位置信息。
5 PLCC 接插件 仅使用在背光下。对向元件主体内部延伸的引
脚的先端和横向进行检测，并将其结果作为位
置信息使用。
11 TAB 仅使用在背光下。因为引脚先端和根部连接在
元件主体上，故仅使用元件横向的位置信息。
13 QFP 仅使用在背光下。虽然进行引脚先端和横向的
检测，但因正确计算出引脚横向位置极其重
要，故仅将横向检测结果作为位置信息使用。