SIPLACE Machine de placement 80 S FG.pdf - 第292页
7 Systèmes V ision Notice d’exploi tation SIPLACE 80 S/F/G 7.7 Manuel de description de formes de boîti er Edition 07/97 Version du l ogic iel à partir de SR.010.xx 7 - 100 Fig. 7.7. 4 Diagramme fonctionnel ’ Programmati…
Notice d’exploitation SIPLACE 80 S/F/G 7 Systèmes Vision
Edition 07/97 Version du logiciel à partir de SR.010.xx 7.7 Manuel de description de formes de boîtier
7 - 99
Fig. 7.7.3 Diagramme fonctionnel ’ Programmation et test d‘une forme de boîtier (FB) ’, partie 1 - Calculateur de lignes
Veuillez tenir compte du fait
qu‘en ce qui concerne les
FBs standards par TEST
DES COMPOS., il peut être
procédé à un changement
de la reconnaissance des
composants.
(En cas de nécessité, faire
une copie de sauvegarde du
fichier FB [ fichier _.SST]
d‘origine).
Oui
Présence
d’un fichier FB?
Programmer fichier FB n°
>1499.
Non
Choisir type de boîtier.
FDC irréguliersFDC réguliers
Partially defined
C
omponent
Ball Grid Array
Inscrire commentaire
utilisateur
Inscrire commentaire
utilisateur
Inscrire commentaire
utilisateur
Inscrire commentaire
utilisateur
Mesures nominales FB
et valeurs de tolérance
Mesures nominales FB
et valeurs de tolérance
Mesures nominales FB
et valeurs de tolérance
Mesures nominales FB
et valeurs de tolérance
Dimensions du corpsDimensions du corps Dimensions du corps
Programme de données
des groupes de petites
pattes, de modèles de
petites pattes
Programme de données
des groupes de petites
pattes, de modèles de
petites pattes
Programme de données
de grilles de balls, de
modèles de balls
Nouveau composant
Données de traitement
Type de pipettes
(caméra) Type de
système de capteur Con-
trôles vide / Paramètres
de traitement / Accélérati-
ons réduites
Données de traitement
Type de pipettes
(caméra) Type de
système de capteur Con-
trôles vide / Paramètres
de traitement / Accélérati-
ons réduites
Données de traitement
Type de pipettes
(caméra) Type de
système de capteur Con-
trôles vide / Paramètres
de traitement / Accélérati-
ons réduites
Données de traitement
Type de pipettes
(caméra) Type de
système de capteur Con-
trôles vide / Paramètres
de traitement / Accélérati-
ons réduites
SAUVEGARDER
Poursuite de la programmation sur la station (voir Fig. 7.7.4)
Programmer fichier - Programmer informations supplémentaires
7 Systèmes Vision Notice d’exploitation SIPLACE 80 S/F/G
7.7 Manuel de description de formes de boîtier Edition 07/97 Version du logiciel à partir de SR.010.xx
7 - 100
Fig. 7.7.4 Diagramme fonctionnel ’ Programmation et test d‘une forme de boîtier (FB)’, partie 2 - Calculateur de station
Non
Envoyer à station et configurer programme et configuration avec cette forme de boîtier
Modifier FB, suivant les besoins, dans le „ Système Vision “, „ Tester compos. “
Tête revolver
Prendre FB (compos.)
Tête de report IC
Prendre FB (compos.)
Afficher compos. Mesurer compos.
Examiner FB (compos.)
Return pour proch. étape de
Afficher compos.
Examiner FB (compos.)
Return pour proch. étape de
mesure
Mesurer FB (compos.)
Y a - t - il
un message d‘err-
reur ?
Oui
Répéter plusieurs fois processus
mesure (compos., transporté sur
pipette, simule prise divers com-
pos.) et examiner résultats
Toujours identique ?
Oui
Reporter plusieurs fois !
Remarque importante :
la manipulation de composants
sur la station doit impérative-
ment demeurer une exception.
En règle générale, seul un petit
nombre de composants
doit être modifié.
8. Programmer contraste
(programmer transformation)
7. Modifier dimensions Pin / Ball
6. Modifier contraste Pin / Ball
5. Modifier dimension composant
4. Modifier modes et paramètres
de mesure
3. Modifier éclairage
2. Afficher composant
1. Erreur manipulation : angle prise,
type pipette, BT sur pipette, etc.
Non
Notice d’exploitation SIPLACE 80 S/F/G 7 Systèmes Vision
Edition 07/97 Version du logiciel à partir de SR.010.xx 7.7 Manuel de description de formes de boîtier
7 - 101
7.7.3 Formes de construction et méthodes de mesure possibles pour
un centrage grossier (G) et un centrage fin (F)
*) LEAD avec fenêtres d‘évaluation combinées pour chaque rangée de PINs remplace la méthode de mesure
CORNER. La mesure de l‘espacement est remplacée par une mesure de l‘écart (normalisé) des petites
pattes.
Si une (ou plusieurs) valeur(s) des résultats sont hors tolérance,
le composant ne sera pas reporté.
Si le composant est centré correctement, on pourra se passer d‘autres méthodes de mesure. Cependant,
exécutez toutes les étapes de centrage grossier car celles - ci réduisent les fenêtres de mesure.
Forme
de construction
SIZE
ROW
CORNER
Lead *)
combiné
Lead séparé
Fenêtre d‘évaluation
Grid
Ball
Résultat de la dernière étape
de mesure
PDC sans petites pattes G/F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), longueur compos.
largeur, (qualité)
PDC effectuant une
représentation sphéri-
que
G/F Tolérance d‘angle
Petits FDCs, exemple :
2 petites pattes
G/F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), longueur compos.
largeur, (qualité)
FDC régulier avec des
rangées de PIN courtes
G F (F)
Ecart max. de l‘espacement :
∆
X,
∆
Y,
∆φ,
(qualité)
FDC régulier avec des
rangées de PIN longues
G F (F)
Ecart max. de l‘espacement :
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
),
(qualité)
FDC irrégulier avec
des rangées de PIN
courtes
G(G)F(F)
∆
X,
∆
Y, nombre de PINs (qualité)
Ecart max. de l‘espacement
FDC irrégulier avec
des rangées de PIN
longues
G(G)F(F)
∆
X,
∆ζ
Y, nombre de PINs (qualité)
Ecart max. de l‘espacement
FDC irrégulier avec
une rangée de PIN, plu-
sieurs modèles de PIN
ou espacement
GGF
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), écart des petites pattes
normalisé (qualité)
Nombre de PINs offset secondaire
FDCs avec dispositions
de PINs en forme de
segment circulaire
(G) G F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), écart des petites pattes
normalisé (qualité)
Nombre de PINs offset secondaire
BGA, Flip - Chip G G F
∆
X,
∆
Y, (
∆φ
), espacement,
angle,
qualité
Tab. 7.7.1 Méthodes de mesure pour composants