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明锐炉后 AOI 操作手册 - 正式 30 XY 校正：适合拼板上的每个单板，可对此单板上的所有窗口进行 X 、 Y 的校正。将检索到的 M ark 点位置与程序制作时定义的 Mark 点坐标进行对比 , 计算出偏移量 △ X/ △ Y, 将此偏移量作为校正量对所有检测窗口进行校正。 θ 校正：需找 2 个 Mark 点即在对角上各设定一个校正标识，适合整板，可对整板上的所有窗口进行 X 、…

明锐炉后 AOI 操作手册 - 正式

第 2 节 Mark 点及标记

2.2.1

2.2.1 Mark 点算法

1 ）常见 Mark 点的几种形状

Mark 点的尺寸一般直径在 3-350 像素（ 20 µ 分辨率时）。

材质：铜箔、镀锡、镀金及镀镍

2 ） Mark 点作用

PCB 板被传送到设备时，对由于 PCB 板变形等原因造成的窗口和元件位置发生的偏移进行

校正

3 ） XY 校正

只设定一个 Mark 点，可对整板或单板进行 X 、 Y 座标的校正

4 ） θ 校正

当设定两个 Mark 点时，可对整板进行 X 、 Y 座标， θ 角度（含缩放比）的校正

5 ）对于整板最多可加 2 个 Mark 点，每一个拼板可加一个 Mark 点进行个板的 X 、 Y 较正。

具体实现方法 :

明锐炉后 AOI 操作手册 - 正式

XY 校正：适合拼板上的每个单板，可对此单板上的所有窗口进行 X 、 Y 的校正。将检索到

的 Mark 点位置与程序制作时定义的 Mark 点坐标进行对比 , 计算出偏移量 △ X/ △

将此偏移

量作为校正量对所有检测窗口进行校正。

θ 校正：需找 2 个 Mark 点即在对角上各设定一个校正标识，适合整板，可对整板上的所

有窗口进行 X 、 Y ， θ （含缩放比）的校正。

相关数据：

自动检索窗作用 : 在其限定的范围内检索本体

元件窗作用 : 定义 Mark 点的尺寸

6 ）具体检测原理要求及格式

点中自动检索窗，进入到自动检索窗的编辑

自动检索窗

选定颜色所占比例 ≥ ___ %

说明：

A ．抽取 Mark 点颜色（一般为红色）及亮度，抽取时注意尽量不要让抽取到 Mark 点以外的

对象。

B ．计算抽出的 Mark 点颜色面积占该元件窗面积的百分比，满足比例设定条件的将作为最

终的 Mark 点；否则结果 NG ，报 Mark 点检索失败。

C ．将检索到的 Mark 点元件窗与原设定的元件窗间偏移量作为校正量，对所有窗口进行校

正。

元件窗

元件窗作用只是定义 Mark 点的尺寸 , 要求与真实的 Mark 点大小基本一致；此窗口内无其它

参数。

2.2.2

2.2.2 坏板标记检查算法

1) 坏板标记检查算法基础说明

多连板中的其中一块或多块单板已做坏板处理时，预先用不检查标记对其识别。在检查模式

下，坏板进行正常检测，但检测到存在杯板标记的单板时，对此单板所有报错信息进行屏蔽

，

不显示出来。

2) 具体检查原理要求及格式

点中自动检索窗进入到自动检索窗的编辑

自动检索窗

颜色比例 ≤ ___ %

说明 :

1. 抽取坏板标记的颜色及亮度。

2. 计算校正后的元件窗中抽出的坏板标记的颜色的面积，如果小于设定值则 OK ；如果大于

设定值则 NG 。 NG 后将此处视为存在坏板标记，作为坏板进行处理：此单拼板所有元件的

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结果不输出； OK 时表示不存在坏板标记，按常规 PCB 单板进行检测和处理。

元件窗

元件窗作用只是定义标记的尺寸，要求与真实的 Mark 点大小基本一致；此窗口内无其它参

数。

2.2.3

2.2.3 正反面标识检查算法

1) 正反面标识检查算法基础说明

当此程序中存在正反面标记时，如果标记 OK ，则用此程序进行检测；如果标记识别 NG ，

则自动调用另一个已设定好的跳转程序进行检测。

2) 具体检查原理要求及格式

点中自动检索窗进入到自动检索窗的编辑

自动检索窗

选定颜色所占比例 ≥ ___ %

OK 调用程序：（点此处会弹出程序列表）

NG 调用程序：（点此处会弹出程序列表）

说明 :

1. 抽取正反面标记的颜色及亮度。

2. 计算校正后的元件窗中抽出的正反面标记的颜色的面积，如果大于设定值则 OK ，此时用

此程序进行检测；如果小于设定值则 NG ，此时自动调用另一个已设定好的跳转程序进行检

测。

元件窗

元件窗作用只是定义标记的尺寸 , 要求与真实的 Mark 点大小基本一致；此窗口内无其它参

数。

以下是对标记点的检测逻辑：