明锐炉后AOI操作手册-正式.pdf - 第32页
明锐炉后 AOI 操作手册 - 正式 32 第 3 节 常规 CHIP 类元件检查算法 2.3.1 检查 算法基 础说 明 检测窗示意 图： 下面 对 CHIP 类 ( 片式阻 容类 /MELF/ 片式钽 电容 ) 的算法 进行 说明 ,CHIP 类 元件 的检 测按照下 面的顺序进行
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结果不输出； OK 时表示不存在坏板标记，按常规 PCB 单板进行检测和处理。
元件窗
元件窗作用只是定义标记的尺寸 ， 要求与真实的 Mark 点大小基本一致 ； 此窗口内无其它参
数。
2.2.3
2.2.3
2.2.3
2.2.3 正反面标识检查算法
1) 正反面标识检查算法基础说明
当此程序中存在正反面标记时，如果标记 OK ，则用此程序进行检测；如果标记识别 NG ，
则自动调用另一个已设定好的跳转程序进行检测。
2) 具体检查原理要求及格式
点中自动检索窗进入到自动检索窗的编辑
自动检索窗
选定颜色所占比例 ≥ ___ %
OK 调用程序 ： （点此处会弹出程序列表）
NG 调用程序 ： （点此处会弹出程序列表）
说明 :
:
:
:
1. 抽取正反面标记的颜色及亮度。
2. 计算校正后的元件窗中抽出的正反面标记的颜色的面积，如果大于设定值则 OK ，此时用
此程序进行检测 ； 如果小于设定值则 NG ， 此时自动调用另一个已设定好的跳转程序进行检
测。
元件窗
元件窗作用只是定义标记的尺寸 , 要求与真实的 Mark 点大小基本一致；此窗口内无其它参
数。
以下是对标记点的检测逻辑：
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第 3 节 常规 CHIP 类元件检查算法
2.3.1 检查 算法基 础说 明
检测窗示意图：
下面对 CHIP 类 ( 片式阻容类 /MELF/ 片式钽电容 ) 的算法进行说明 ,CHIP 类元件的检测按照下
面的顺序进行
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2.3.2 检查 原理介 绍
2.3.2 .1 自 动检 索窗
自动检索窗口的功能是对焊盘及元件的位置进行校正和定位，主要是对应由于 PCB 的局
部变形而引起的偏差 ， 通过对焊盘找正后自动对偏差进行校正 。 点中自动检索窗进入到自动
检索窗的编辑。
具体算法按下面的顺序进行
自动检索窗
□ 电极设定
电极纵长 ___%
电极横长 ___%
说明 :
:
:
:
是对电极的纵长 、 横长设定 ， 按横 、 纵长设定 ， 在两端各产生一个电极区域 ， 无颜色抽取等
其它需求。
□ 元件检索
○ 电极检索
电极颜色比例 ≥ ___ %
○ 本体检索
本体颜色比例 ≥ ___ %
说明：
1. 抽取元件电极 / 本体的颜色及亮度。
2. 如果计算出的百分比大于设定值 ， 则将此处作为最终检索到的电极 / 本体位置 （ 能进行转角