IPC J-STD-001E CN 焊接的电气与电子组件要求 2010年4月.pdf - 第52页

7.5.14 表⾯贴装⾯ 阵列 封装 这 里 所规 定的面 阵 列要求 , 基 于 已 建立了 X 射 线或 普 通目 检 评 定程 序 。这些 要求 ,在某 种 有 限程度内 ,是按 目 视 评 定条件 给 出 的 ,但 不 能 用 普 通目 检方法完 成的 特 征 评 定 更 经 常 要求用 X 射 线 图 像 来进 行 评 定 。 目 视 检查 要求 : a. 当采 用目 视 检查方法进 行 产品 的可接 受 性 评 定 时,采 …

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7.5.13 L带状引线 内弯L形引线端子的元器件形成的连接应当[D1D2D3]满足7–13
7–13尺寸及焊料填充的要求
7-13 尺⼨要求 L带状引线
参数 尺⼨ 1 2 3
最大侧偏移 A50%W;注1,注5
25%W)或25%P
取两者中的较小;注1,注5
最大偏移 B 1 1
最小端连接 C50%W
75%W)或75%P
取两者中的较小
最小侧面连接 D 350%L 75%L
最大填充高度 E
H+G
4
H+G
4
H+G;注4
最小填充高度,注
5,注6
F
元器件端子
表面湿明
G+25%H)或(G+0.5mm[0.0197in]
取两者中的较小
焊料填充厚 G 3
引线高度 H 2
最小 K 2
引线 L 2
P 2
盘长 S 2
引线 W 2
1 反最小电气间隙
2 定的尺寸或变量
3 湿明
4 焊料接触引线弯曲内的元器件本体。
5 引线分成两个时,每叉的连接满足所有规定的要求
6
导通孔的设妨碍满足这些条件焊接验收要求应用户制造商协商
7–13 L带状引线
1.
2.
W
A
C
P
G
F
H
E
K
D
L
S
1
2
IPC-001e-7-013
20104 IPC J-STD-001E-2010
39
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7.5.14 表⾯贴装⾯阵列封装 所规定的面列要求建立了X线或通目定程
。这些要求,在某限程度内,是按定条件,但通目检方法完成的
要求用X线来进
检查要求
a. 当采用目检查方法进产品的可接时,采用表11–1和表11–2的放
b. 对面列元器件外边(外围)的焊接端子
行目检查。
c. 列元器件与印上的角位标XY两个方向都要对
d. 除非设特别规则任何引线(焊料、焊料柱)的缺都是缺陷
组装方法和材料应用获得本是工艺开发和控制工艺验证可替代X线/目检查,
能提供证明符合性的客观证据
IPC-7095列元器件的工艺通过广泛讨论列器件工艺开发问
推荐性要求
注:专用电子组件的或设置不X线设备会损伤敏感元器件
表面贴装面列封装应当[D1D2D3]满足7–14中对于有塌落焊料的元器件、表7–15中对于有
塌落焊料的元器件、表7–16中对栅阵列元器件的尺寸和焊料填充要求
7.5.14.1 有可塌落焊料的表⾯贴装阵列元器件 塌落焊料球栅阵列(BGA)元器件应当
[D1D2D3]满足7–14的要求
7–14 尺⼨要求 - 有可塌落焊料的表⾯贴装⾯阵列元器件
参数 123
对准 焊料偏移未反最小电气间隙
焊料间隔,图7–14 焊料偏移c)不反最小电气间隙
焊接连接 a. 焊接连接满足4.18的要求
b. BGA焊料接触并润湿焊盘,形成一圆形或柱形连
X射线的区内,球内空等于小于25%。注1,注2
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
1 的空,例如上的导通孔要求。这情况验收要求制造商和用户协商
2
制造商可通过测或分开发已考虑了最终应用环境的空验收要求
7–14 BGA焊料间隔
C
IPC-001e-7-014
20104IPC J-STD-001E-2010
40
7.5.14.2 ⾮塌落焊料的表⾯贴装阵列元器件 塌落焊料的元器件(BGA应当[D1D2D3]
满足7–15中的要求
7.5.14.3 栅阵列元器件 栅阵列(CGA)元器件应当[D1D2D3]满足7–16的要求
7–15 ⾮塌落焊料的表⾯贴装⾯阵列元器件
参数 123
对准 焊料偏移未反最小电气间隙
焊接连接 a. 焊接连接满足4.18的要求
b. 焊料湿焊料和焊端子
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
7–16 栅阵列元器件
参数 1 23
对准 柱的偏移未电气间隙 有超出周界
焊接连接
满足4.18的要求
外部圆柱的可见部分示焊料填充。
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
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