IPC J-STD-001E CN 焊接的电气与电子组件要求 2010年4月.pdf - 第53页

7.5.14.2 有 ⾮塌落 焊料 球 的表⾯贴装 阵列 元器件 有 非 塌落 焊料 球 的元器件( BGA ) 应当 [D1D2D3] 满足 表 7–15 中的要求 。 7.5.14.3 柱 栅阵列 元器件 柱 栅阵 列( CGA )元器件 应当 [D1D2D3] 满足 表 7–16 的要求 。 表 7–15 有 ⾮塌落 焊料 球 的表⾯贴装⾯ 阵列 元器件 参数 1 级 , 2 级 , 3 级 对准 焊料 球 的 偏移未 违 反最小…

100%1 / 76
7.5.14 表⾯贴装⾯阵列封装 所规定的面列要求建立了X线或通目定程
。这些要求,在某限程度内,是按定条件,但通目检方法完成的
要求用X线来进
检查要求
a. 当采用目检查方法进产品的可接时,采用表11–1和表11–2的放
b. 对面列元器件外边(外围)的焊接端子
行目检查。
c. 列元器件与印上的角位标XY两个方向都要对
d. 除非设特别规则任何引线(焊料、焊料柱)的缺都是缺陷
组装方法和材料应用获得本是工艺开发和控制工艺验证可替代X线/目检查,
能提供证明符合性的客观证据
IPC-7095列元器件的工艺通过广泛讨论列器件工艺开发问
推荐性要求
注:专用电子组件的或设置不X线设备会损伤敏感元器件
表面贴装面列封装应当[D1D2D3]满足7–14中对于有塌落焊料的元器件、表7–15中对于有
塌落焊料的元器件、表7–16中对栅阵列元器件的尺寸和焊料填充要求
7.5.14.1 有可塌落焊料的表⾯贴装阵列元器件 塌落焊料球栅阵列(BGA)元器件应当
[D1D2D3]满足7–14的要求
7–14 尺⼨要求 - 有可塌落焊料的表⾯贴装⾯阵列元器件
参数 123
对准 焊料偏移未反最小电气间隙
焊料间隔,图7–14 焊料偏移c)不反最小电气间隙
焊接连接 a. 焊接连接满足4.18的要求
b. BGA焊料接触并润湿焊盘,形成一圆形或柱形连
X射线的区内,球内空等于小于25%。注1,注2
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
1 的空,例如上的导通孔要求。这情况验收要求制造商和用户协商
2
制造商可通过测或分开发已考虑了最终应用环境的空验收要求
7–14 BGA焊料间隔
C
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7.5.14.2 ⾮塌落焊料的表⾯贴装阵列元器件 塌落焊料的元器件(BGA应当[D1D2D3]
满足7–15中的要求
7.5.14.3 栅阵列元器件 栅阵列(CGA)元器件应当[D1D2D3]满足7–16的要求
7–15 ⾮塌落焊料的表⾯贴装⾯阵列元器件
参数 123
对准 焊料偏移未反最小电气间隙
焊接连接 a. 焊接连接满足4.18的要求
b. 焊料湿焊料和焊端子
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
7–16 栅阵列元器件
参数 1 23
对准 柱的偏移未电气间隙 有超出周界
焊接连接
满足4.18的要求
外部圆柱的可见部分示焊料填充。
填充或加材料 在所要求的填充或加材料,并完
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7.5.15 部端⼦元器件(BTC 这些要求于小外形成电(无引线)(SOICNL
本文件中未规热面焊接连接不可见部分的要求,这些要求用户制造商协商。散
面的验收要求和工艺有关。需考虑包括但元器件制造商的应用说明、焊料
覆盖、空、焊料高度等等。焊接元器件时,在散热层中形成空比较常。有要求时,焊料
应当[D1D2D3]符合件要求
外部引线的元器件形成的连接应当[D1D2D3]满足7–177–15中的尺寸和焊料填充
有些封装结构的
出,封装外部露部上的可焊接表面,这将形成
填充。
IPC-7093了底部端子元器件的工艺,包通过广泛讨论部端子元器件工艺开发问
推荐性要求
组装方法和材料使获得本是工艺开发和控制工艺验证和控制可替代X 线/目
查,要具证明符合性的客观证据
7–17 尺⼨要求 - QFN
参数 尺⼨ 1 2 3
最大侧偏移 A50%W;注125%W;注1
偏移(元器件端子的外边缘) B 允许
最小端连接 C50%W 75%W
最小侧面连接 D 4
焊料填充厚 G 3
最小部(端)填充高度 F 2,注5 2,注5
端子高度 H 5
导热的焊料覆盖 4
P 2
端子 W 2
热面的空要求
6
1 反最小电气间隙
2 定的尺寸或变量
3 湿明
4 不可目检查4.18.3节。
5 H=引线可焊表面的高度,如有。封装结构在侧可焊表面不要求部(端部)填充。
6
验收要求制造商和用户协商
7–15 部端⼦元器件
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A
P
W
G
H
F
2
1
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