神州视觉aleader阿立得ALD620-AOI编程手册1.pdf - 第24页
3.3.6 制作 Mark 一般在 P CB 的对角位置选择两个容易识别的点作为 mark 点，通常是选择板边上的 mark 。 在 缩 略 图 上 双 击 事 先选好的作为 m ark 点的 位置， 将其移动到镜头下 方。在 “编辑区”可以看 到 m ark 点的图像。点击 菜单 “程序编辑”栏下的 “ 程 序 设 置 ” 打 开 设 置 MARK 的窗口。如右图： 同时〔实时显 示〕 图像 窗口 会出现 一个 可 以改 变大 小的绿…
3.3.5 制作缩略图
缩略图是当前测试的 PCB 的缩小图像，便于于全局观察、显示错误位置以及进行选择框操作。另：
如要将镜头移到某一位置，只需双击缩略图上的相应位置即可。
选择菜单“程序编
辑”栏下的“制作缩略
图”选项即可。
或者选择任务选项
卡“缩略图窗口”下的
制作缩略图栏，然后选
择适当比例单击〔制作
缩略图〕按钮。缩小比
例根据板的大小而定，
一般首次制作比例范围
为 15%—20%，制作完
成后把比例缩小以缩略
图窗口能显示整个 PCB
的外形图像为宜。缩略
图的移动可直接在图上
按下左键托动或移动缩
略图窗口的滚动条来移
动。
选 择 制 作 缩 略
图即可
首 次 制 作 比
例 范 围 为
15%—20%，
为 了 令 缩 略 图
可 完 整 的 显 示
PCB，选择适当
的缩小比例。
3.3.6 制作 Mark
一般在 PCB 的对角位置选择两个容易识别的点作为 mark 点，通常是选择板边上的 mark。
在缩略图上双击事
先选好的作为 mark 点的
位置，将其移动到镜头下
方。在“编辑区”可以看
到 mark 点的图像。点击
菜单“程序编辑”栏下的
“程序设 置 ”打开设置
MARK 的窗口。如右图：
同时〔实时显示〕
图像窗口会出现一个可
以改变大小的绿色小方
框，移动方框到 mark
位 置 并 适 当 改 变 其 大
小 ， 然 后 单 击 〔 定 义
MARK〕按钮，在设置
MARK 窗口将出现 所
选中的 MARK 点。选择
适当的颜色设置和对比
度亮度，令 Mark 的效
果如图所示。
同理移到对角位置设定第二个 MARK 点，最后点击〔确定〕按钮即设置完毕。注意：一般选择外观比
较规则、变化小的图
像作为 mark 点。照 mark 点时一般只用红光和黑白图像较好，实际效果根据具体情况而定，mark 误差
范围默认为 10%可适当调到 20%左右。
作为 Mark 的标志，必须每块板在该位置上都必须具有该标志，且实际位置变化很小，对比度
比较大，旁边没有类似标志。
可搭配适当的颜色及调节对比度亮度
来过滤掉图像的杂色让 MARK 更清晰
针对 01005 小元件的定位
3.3.7 手工编辑程序
模块上的各种元件类型，对应 PCB 板上各种类型的元件，也就是不同类型的元件，采用不同
的注册模块。元件注册模块效果图如下：
3.3.7.1 标准图库的建立
标准的建立实质是通过应用数学统计学原理，通过抽样学习一系列 OK 样品，观察 OK 样品外观
变化并结合抽样中所看到的视觉偏差来抽象出 OK 样品的基本特征和变化规律。
首先，建立最初的标准。将一块待测 OK 样品 PCB 放入导轨，经 MARK 校正后在“编辑区”托动
鼠标画框框住待测零件，画框需比元件要稍微大点，大概为 1—3 个像素这样才能抓取元件的全貌注册
元件。然后在方框中单击鼠标右键在弹出菜单中选择“注册标准”。
最后，学习和调试一系列 OK 样品，计算机自动统计建立标准模型。
SOP
QFP
IC
IC