KE-3010_20V_操作手册（程序员，管理员用）.pdf - 第302页
操作手册Ⅱ 3) 单独测量结果 单独测量结束后 ，显示如 下的结果画面。 a) 全体的进展状况 在进度条上显示 当前的进 展状况。 b) 测量元件 显示测量元件的 内容及吸 取位置。 3- 217
操作手册Ⅱ
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在 1mm 以下时，会显示询问测量后的元件是归还、或
是废弃信息。
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
·
激光高度覆盖确认
·
芯片站立判定高度覆盖确认
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。
检测出芯片站立时，会显示以下提示信息。
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操作手册Ⅱ
3)
单独测量结果
单独测量结束后，显示如下的结果画面。
a)
全体的进展状况
在进度条上显示当前的进展状况。
b)
测量元件
显示测量元件的内容及吸取位置。
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操作手册Ⅱ
c)
测量结果
显示测量前和测量后的值。
未进行测量的项目显示***。
●
变幻线
从激光单元取得检测(SWEEP)数据，可显示出元件轮廓图（变幻线）。
按键盘的[↑]键扩大显示画面，按[↓]键缩小显示画面。
d)
确定
(F9)
使测量结果有效，将结果值储存在元件数据中。然后返回原来的单独测量条件的设置画面。
e)
取消
(ESC
键
)
使测量结果无效，然后返回原来的单独测量条件的设置画面。
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