TR7700QE_Software_ch-v3.0_20180328.pdf - 第136页

Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 113 詳細說明請參閱 本體檢測 ( Chip) 框的 Boundary 說明。 (x1 , y1 ) - ( x4, y4) 等四端點由檢測框尺寸 ( P atM atch 檢測框 W /H)+ 旋轉角度 (angle) 計算出 。 − IPC :套用 IPC 規範的設定值。  極性比對:勾選表示開 啟極性檢測功能。 即…

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186:特徵匹配框參數設定畫面
硬體設定
相機:顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光:選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈,預設為錫形燈源
一般合格標準
相似度:設定待測影像與標準影像的相似度標準值。當待測物與標準值的相似度低於設定
值,即視為不良。
旋轉:設定待測元件旋轉角度的允差
基本參數與其對應的合格標準
3D 模式:開啟或關閉 3D 模式。
顯示模式:選擇使用 2D Image 或者 3D HeightMap
影像模式:選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法,預設為權重法。
定位模式:區分為 Normal Warp 模式,Normal 即一般檢測,Warp 為定位補償,Fail
時不會顯示在測試視窗
偏移模式:選擇使用 NormalShiftXYBoundary IPC 模式。
Normal:可以個別設定 X 向與 Y方向的偏移允差
ShiftXY:設定 X Y 方向的總位移量(XY位移的平方根)允差
Boundary:設定一個以檢測框往外延伸的邊界值作為檢測的判定基準。當檢測結果
出此邊界範圍時視為不良。
X 邊界:設定 X 方向的邊界允差。當檢測值小於設定允差時會判定為合格
Y 邊界:設定 Y 方向的邊界允差。當檢測值小於設定允差時會判定為合格
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詳細說明請參閱 本體檢測(Chip)框的 Boundary說明。
(x1, y1)-(x4, y4)等四端點由檢測框尺寸(PatMatch檢測框 W/H)+旋轉角度(angle)計算出
IPC:套用 IPC 規範的設定值。
極性比對:勾選表示開啟極性檢測功能。即待測物影像若旋 180 度時會視為不良。
進階參數與其對應的合格標準
亮暗比對:開啟後除了會比對特徵外,也會比對影像中間是否為同樣的顏色。舉例來說,
在功能還沒開啟前,相同尺寸的黑圓和白圓相似度可能很高,但是在開起功能後,相似度
會大幅降低。
3.6.9 極性檢測(PolarPair)
1) 用途:主要用來檢查元件的極反。
2) 檢測原理:利用檢測框與對照框之間的灰階亮度差,來測試元件的極性。(對照框的位置會依
照本體的範圍自動產生在相對於原本檢測框的位置,如下圖所示。)
187:極性檢測框檢測原理說明圖
3) 參數畫面與說明:
硬體設定
相機:顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光:選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈,預設為低角度燈
基本參數與其對應的合格標準
3D 模式:開啟或關閉 3D 模式。
比較模式:選擇使用灰(Gray Level)模式或者影像(Pattern)模式。灰階模式是使用檢測
框與虛擬對照框內的灰階進行比對;而影像模式則是使用影像特徵的相似度進行比對。
3D 模式為關閉,且比較模式設定為 Gray Level時,其介面與參數如下:
對照框 檢測框
本體框
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188:極性檢測框參數設定畫面比較模式Gray Level
灰階公差:設定檢測框與對照框之間的灰階差異允差。在極性指標設定為 Bright
Side,檢測結果為正值且大於允差時,會判定為合格。在極性指標設定為 Dark
Side,檢測結果為負值且絕對值大於允差時,會判定為合格。
檢測框灰階:顯示檢測框在權重調整後的平均灰階值。
對照框灰階:顯示對照框在權重調整後的平均灰階值。
極性指標:可選擇檢測框所在的位置是屬於亮區(Bright Side) 暗區(Dark Side)
Equal(相等)
統計種類:選擇統計的方式,有 AverageMaximumMinimum StdDev 四種。
- Average:移除離群值後的平均值。
- Maximum:移除離群值後的最大值。
- Minimum:移除離群值後的最小值。
- StdDev:移除離群值後的標準差。
備註:離群值判定為灰階值落在正負三倍標準差之外的像素點不列入計算,被濾除
的像素點在畫面上會顯示為灰色。
3D 模式為關閉,且比較模式設定為 Pattern 時,其介面與參數如下: