TR7700QE_Software_ch-v3.0_20180328.pdf - 第67页

Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 44 圖 69 :編輯元件 資料庫 – 積體電路 (IC) 元件 – 調整 CAD 方格 與 元件本體大小 相 符 步驟 7. 接著,點選 後,在 積體電路 的導腳上排最左邊的導腳上拖曳 出檢測框。

100%1 / 391
Test Research, Inc.
TR7700QE User GuideSoftware 43
68:編輯元件資料庫晶片(Chip)元件套用模組元件庫來產生元件所需的檢
測框
步驟5. 接著,調整每個檢測框的大小與參數,來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測
框的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數,將說明於接下來的章節。
步驟6. 對於有導腳的元件,使用者需要使用到導腳框的功能,以下將以積體電路元件來作
示範,或參閱 5.3.9 。同步驟 2)
,使用者須將元件本體框調整至與元件本體大小相
符,如下圖所示。(於較大的元件,請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)
Test Research, Inc.
TR7700QE User GuideSoftware 44
69:編輯元件資料庫積體電路(IC)元件調整 CAD 方格元件本體大小
步驟7. 接著,點選 後,在積體電路的導腳上排最左邊的導腳上拖曳出檢測框。
Test Research, Inc.
TR7700QE User GuideSoftware 45
70:編輯元件資料庫積體電路(IC)元件增第一個導腳框
步驟8. 選擇導腳群組後,按下確定
步驟9. 點選 ,此時系統會在積體電路元件上排最右邊的導腳上也產生另外一個導腳
框。(若產生的位置不正確,使用者可以使用鍵盤的上下左右鍵進行微調。)