TR7700QE_Software_ch-v3.0_20180328.pdf - 第174页
Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 151 圖 248 ：背景燈光 功能說明圖 示 範例：如下圖所示，期 望檢測出的不良為 紅框 所選擇的刮 傷。 圖 249 ：類金手指 缺陷範例 步驟 1. 新增 Goldeneye 框，使其包含整個金手 指範圍。 前景影像 ( 均勻光 ) 背景影像 ( 錫形燈 ) 背景影像 ( ) 二值化影像
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TR7700QE User Guide–Software 150
圖 246：邊緣向內/外遮罩說明
區塊面積上/下限：設定要檢測的缺陷區塊面積範圍 (單位:um
2
)。
代料檢測：使用預先教導的代料影像與當前檢測影像在同個權重下相比找出差異。
凹面檢測：主要用於檢測微小瑕疵缺陷。藉由自身的封閉運算計算出完整的影像，並藉由
此影像比較二值化影像得到差異，進而找出缺陷點減少漏測的風險。
圖 247：凹面檢測說明圖示
背景燈光：選擇背景影像所要使用的燈光 (可與前景影像相同) 。
前景檢測影像
二值化影像 封閉影像 差異影像
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圖 248：背景燈光功能說明圖示
範例：如下圖所示，期望檢測出的不良為紅框所選擇的刮傷。
圖 249：類金手指缺陷範例
步驟1. 新增 Goldeneye 框，使其包含整個金手指範圍。
前景影像
(均勻光)
背景影像
(錫形燈)
背景影像
( )
二值化影像
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圖 250：新增 Goldeneye 檢測框
步驟2. 設定[區塊面積上下限]，來濾除雜訊。如下圖所示，此設定表示僅有在大於
1000um
2
並小於 100000um
2
的區塊會被列入計算。
圖 251：設定區塊面積上下限
步驟3. 勾選[背景燈光] ，並選擇一個適當的光源，可以清楚看出所要檢測的缺陷。如範例
為均勻光。
圖 252：使用背景燈光
步驟4. 調整[前景光源]下檢測框的權重，使欲檢測物的物體在前景影像下， 可以呈現飽和
的色彩分佈。