TR7700QE_Software_ch-v3.0_20180328.pdf - 第280页
Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 257 1) 在原圖模式下，點選 [ 自動產生 ] 按鈕。 2) 拖曳滑鼠拉出 插件 元件 範圍 所在位置，如下圖所示 。 圖 407 ： 插件 自動功能拖曳搜 尋範圍 3) 系統會自動每個插件加上 導腳框。 自動搜尋晶片排阻 / 排 容並加上導腳框， 使用方式如下： 1) 在原圖模式下，點選 [ 自動產生 ] 按鈕。 …
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TR7700QE User Guide–Software 256
圖 405：積體電路自動功能拖曳搜尋範圍
3) 系統會自動調整本體框大小並且將每個導腳加上導腳框。
自動搜尋連接器類的導腳並加上導腳框，使用方式如下：
1) 在原圖模式下，點選[自動產生]按鈕。
2) 拖曳滑鼠拉出連接器導腳所在位置，不要圈選到本體，如下圖所示。
圖 406：連結器自動功能拖曳搜尋範圍
3) 系統會自動將每個導腳加上導腳框。
自動搜尋插件類的孔並加上導腳框，使用方式如下：
Test Research, Inc.
TR7700QE User Guide–Software 257
1) 在原圖模式下，點選[自動產生]按鈕。
2) 拖曳滑鼠拉出插件元件範圍所在位置，如下圖所示。
圖 407：插件自動功能拖曳搜尋範圍
3) 系統會自動每個插件加上導腳框。
自動搜尋晶片排阻/排容並加上導腳框，使用方式如下：
1) 在原圖模式下，點選[自動產生]按鈕。
2) 拖曳滑鼠拉出晶片排阻/排容元件範圍所在位置，如下圖所示。
圖 408：晶片排阻/排容自動功能拖曳搜尋範圍
3) 系統會自動每個爬錫處加上導腳框。
– 旋轉檢測框：對於當前元件的 CAD 進行指定角度的旋轉。
新增
– 檢測框：手動增加元件所需的檢測框。
– 自動新增框：在選擇的範圍內自動新增 Void、GoldenEye 或 Void 框，一般用於金手指檢
測。當點選功能並設定範圍後，會進入到如下圖的設定界面。在此界面內，可先選擇要新
增的檢測框演算法類型，再分別設定群組 1~4 的上下界(設定多少畫素尺寸內在同一群組)，
按下[確定]後，即會在選擇的範圍內依據設定的條件新增選擇的檢測框。
