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Test Research, Inc. TR7700Q E User Gu ide – S o f twar e 149 圖 245 ：前景比對 框參數設定 畫面 硬體： 相機：顯示目前檢測框 所在的相機位置。 燈光：選擇使用均勻光 、錫形燈源、低角 度燈源或者白燈， 預設為錫形燈源 。 一般合格標準： 區塊數量： 設定檢測區 域內的區塊數量上限 ( 預設為 0) 。 基本參數與其對應的合格 標準： 3D 模…
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角度微調：設定切線角度。當角點偵測位置不理想時，可調整切線角度使搜尋位置逼近正
確位置。
圖 244：角度微調範例
3.6.17 前景比對(GoldenEye)框
1) 用途：用來檢測金手指的缺陷。
2) 檢測原理：透過待測物體自身飽和影像 (前景影像) 去比較自身物體在不同燈源/權重時的影
像(背景影像)來找出差異處(缺陷)。
備註：檢測框的光源即為前景影像光源。
3) 參數畫面與說明：
Left-Bottom
Angle Tune：0°
Angle Tune：20°
Angle Tune： −20°
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圖 245：前景比對框參數設定畫面
硬體：
相機：顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準：
區塊數量： 設定檢測區域內的區塊數量上限(預設為 0)。
基本參數與其對應的合格標準：
3D 模式：3D 模式：開啟或關閉 3D 模式。
− 顯示模式：選擇使用 2D Image 或者 3D HeightMap。
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法，預設為權重法。
邊緣向內/外遮罩：由權重調整出來的物體輪廓邊緣往內或者往外增加遮罩，在進行與前
景影像比對的動作(單位:um)。如下圖所示，紫色的區域為向外遮罩，而藍色的區域為向
內遮罩。
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圖 246：邊緣向內/外遮罩說明
區塊面積上/下限：設定要檢測的缺陷區塊面積範圍 (單位:um
2
)。
代料檢測：使用預先教導的代料影像與當前檢測影像在同個權重下相比找出差異。
凹面檢測：主要用於檢測微小瑕疵缺陷。藉由自身的封閉運算計算出完整的影像，並藉由
此影像比較二值化影像得到差異，進而找出缺陷點減少漏測的風險。
圖 247：凹面檢測說明圖示
背景燈光：選擇背景影像所要使用的燈光 (可與前景影像相同) 。
前景檢測影像
二值化影像 封閉影像 差異影像