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4 Funktionsübersicht SMA User Guide SIPLACE Explorer Ausgabe 11/2020 DE ab 3.11 (R20-2) 56 Sie können s ich die Daten für jed e angezeigte S p ur , Bau element und Gehäuseform noch detaillierter ansehen. 4 HINWEI S Werde…
SMA User Guide SIPLACE Explorer 4 Funktionsübersicht
ab 3.11 (R20-2) Ausgabe 11/2020 DE
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–Bestückt:
Die Gesamtanzahl der bestückten Bauelemente innerhalb des Auswertezeitraums. 4
– Abgeworfen:
Anzahl der Bauelemente, die innerhalb des Auswertezeitraums abgeworfen wurden. 4
– Abgeworfen in %:
Prozentuale Anzeige der Bauelemente, die innerhalb des Auswertezeitraums abgeworfen
wurden. 4
– Abholfehler:
Die gesamten Abholfehler, die während dem Auswertezeitraum aufgetreten sind. 4
– Abholfehler in %:
Prozentuale Anzeige der Bauelemente, die aufgrund der aufgetretenen Abholfehler
abgeworfen wurden, innerhalb des Auswertezeitraums. 4
– Ident:
Die gesamten Erkennungsfehler, die während dem Auswertezeitraum aufgetreten sind. 4
– Ident in %:
Prozentuale Anzeige der Bauelemente, die aufgrund der aufgetretenen Erkennungsfehler
abgeworfen wurden, innerhalb des Auswertezeitraums. 4
– Materialfehler:
Die gesamten Koplanfehler oder Materialfehler, die während dem Auswertezeitraum vom
Visionsystem entdeckt wurden. 4
– Prozessfehler:
Die gesamten Prozessfehler, die während dem Auswertezeitraum aufgetreten sind. 4
– Förderer mit den meisten Abholfehlern - Balkendiagramm
Ein Balkendiagramm, das die Spuren der Linie mit den meisten Abholfehlern innerhalb des
Auswertezeitraums anzeigt. Das Diagramm ist in absteigender Reihenfolge sortiert. 4
– Bauelemente mit den meisten Abholfehlern - Balkendiagramm
Ein Balkendiagramm, das die Bauelemente der Linie mit den meisten Abholfehlern innerhalb
des Auswertezeitraums anzeigt. Das Diagramm ist in absteigender Reihenfolge sortiert. 4
– Gehäuseformen mit den meisten Abholfehlern - Balkendiagramm
Ein Balkendiagramm, das die Gehäuseformen der Linie mit den meisten Abholfehlern
innerhalb des Auswertezeitraums anzeigt. Das Diagramm ist in absteigender Reihenfolge
sortiert. 4
4 Funktionsübersicht SMA User Guide SIPLACE Explorer
Ausgabe 11/2020 DE ab 3.11 (R20-2)
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Sie können sich die Daten für jede angezeigte Spur, Bauelement und Gehäuseform noch
detaillierter ansehen. 4
HINWEIS
Werden Daten im Maschinen-Status "Stand-alone" aufgezeichnet, werden diese Daten in den
Diagrammen Bauelemente mit den meisten Abholfehlern und Gehäuseformen mit den
meisten Abholfehlern nicht berücksichtigt. Das Diagramm Förderer mit den meisten
Abholfehlern zeigt die Daten an, wie sie aus OIS gelesen werden. In der Übersichtstabelle
werden alle Daten so angezeigt, wie sie aus OIS gelesen werden. 4
Folgende Handlungen können Sie über die Seite ausführen und sind in diesem SMA User
Guide beschrieben:
“Anzeige weiterer Details am Beispiel der Spuren mit den meisten Abholfehlern” auf Seite 112
“So legen Sie die Generierung von Berichten auf Linien-Ebene fest” auf Seite 99
“So sortieren Sie Tabellen” auf Seite 106
4.1.9 Übersicht Abholen
Auf dieser Seite erhalten Sie eine Zusammenfassung über abgeholte und abgeworfene Bauele-
mente auf Linienebene. Die Informationen werden in Form von Balkendiagrammen angezeigt.
Über die Liste des Drop-down-Menüs können Sie sich die Informationen nach folgenden Kriterien
anzeigen lassen: 4
– Abgeworfene Bauelemente nach Spur
– Alle abgeholten Bauelemente
– Alle abgeworfenen Bauelemente
– Alle abgeholten Bauelemente nach Art des Zuführmoduls
– Abgeworfene Bauelemente nach Art des Zuführmoduls
– Alle abgeholten Bauelemente nach Gehäuseform
– Abgeworfene Bauelemente nach Gehäuseform
– Abholfehler
