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4 Funktionsübersicht SMA User Guide SIPLACE Explorer Ausgabe 11/2020 DE ab 3.11 (R20-2) 94 – Definition der Gesamt-Abwurfrate Abwurfrate % = (Summe Abwurfrate / (Summe be stückte Bauelemente + Summe Fehle r)) * 100 4 – D…

SMA User Guide SIPLACE Explorer 4 Funktionsübersicht

ab 3.11 (R20-2) Ausgabe 11/2020 DE

– Ungenutzt:

Anzahl der nicht verwendeten Bauelemente. 4

– Abholfehler:

Anzahl der Abholfehler. 4

– Abholfehler in %:

Prozentuale Anzeige der Abholfehler. 4

– Ident:

Anzahl der abgeworfenen Bauelemente aufgrund eines Erkennungsfehlers. 4

– Ident in %:

Prozentuale Anzeige der abgeworfenen Bauelemente aufgrund eines Erkennungsfehlers. 4

– Abwurf:

Anzahl der abgeworfenen Bauelemente. 4

– Abwurf in %:

Prozentuale Anzeige der abgeworfenen Bauelemente. 4

–MF:

Anzahl der Koplanfehler oder Materialfehler, die vom Visionsystem entdeckt wurden. 4

–PF:

Anzahl der Prozessfehler. 4

– Fehlt vor Bestückung:

Anzahl der Bauelemente, die sich bei Abholung nicht am Bestückkopf befanden. 4

– Anwesend nach Bestückung:

Anzahl der Bauelemente, die sich nach der Bestückung noch am Bestückkopf befinden. 4

– Bearbeitungsfehler:

Anzahl der abgeworfenen Bauelemente aufgrund eines Dipfehlers oder Klebefehlers. 4

– Abgebrochen:

Anzahl der Bauelemente, die sich nach Abbruch der Bestückung noch am Bestückkopf

befinden. 4

– Definition Summe der Bauelemente

Summe der Bauelemente = (Summe bestückte Bauelemente + Summe Fehler) 4

– Definition der Gesamt-Abwurfrate der Bauelemente

Summe der Abwurfrate = (Summe Erkennungsfehler + Summe Vakuumfehler) 4

4 Funktionsübersicht SMA User Guide SIPLACE Explorer

Ausgabe 11/2020 DE ab 3.11 (R20-2)

– Definition der Gesamt-Abwurfrate

Abwurfrate % = (Summe Abwurfrate / (Summe bestückte Bauelemente + Summe Fehler)) *

100 4

– Definition Vakuumfehler %

Vakuumfehler % = (Summe Vakuumfehler / (Summe bestückte Bauelemente + Summe

Fehler)) * 100 4

– Definition Identfehler %

Identfehler % = (Summe Identfehler / (Summe bestückte Bauelemente + Summe Fehler)) *

100 4

Mögliche Abweichung der Bestückdaten zwischen SIPLACE Explorer und OIS

Die Anzahl der verbrauchten Bauelemente, Abwürfe und Leiterplatten können in SIPLACE Explo-

rer und in OIS abweichen. 4

In OIS hat jeder Datensatz einen Zeitstempel (verbrauchte Bauelemente, Abwürfe von Bauele-

menten und jede Leiterplatte). 4

Startet man eine OIS-Abfrage über SQL Query über den Verbrauch innerhalb eines bestimmten

Zeitintervalls, wird von OIS die Anzahl der Datensätze ausgegeben, deren Zeitstempel innerhalb

dieses Zeitintervalls liegt. 4

SIPLACE Explorer ordnet die Bauelemente den Leiterplatten zu, auf welchen diese bestückt wur-

den. Startet man eine Abfrage über den Verbrauch innerhalb eines bestimmten Zeitintervalls, wird

von SIPLACE Explorer die Anzahl der Bauelemente ausgegeben, die auf den Leiterplatten be-

stückt wurden, die innerhalb des Zeitintervalls produziert wurden. Dieser Unterschied wird bei ei-

ner Fertigung mit 2 Bestückbereichen deutlich. 4

Die folgende Grafik verdeutlicht den Unterschied. 4

Beispiel: Es wurden 8 Leiterplatten auf einer Maschine mit 2 Bestückbereichen bestückt. In der

Grafik sind drei Zeitlinien abgebildet: 4

– Bauelemente Bestückbereich 1

– Bauelemente Bestückbereich 2

– Leiterplatten

Die Bauelemente X, auf der Zeitlinie für Bestückbereich 1, entsprechen den möglichen Zeitstem-

peln der Bauelemente, die auf Leiterplatte X bestückt wurden. 4

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ab 3.11 (R20-2) Ausgabe 11/2020 DE

Abb. 4 - 24 Mögliche Abweichung der Bestückdaten zwischen SIPLACE Explorer und OIS

Startet man eine OIS-Abfrage über SQL Query für das Zeitintervall zwischen T1 und T2, wird die

Gesamtanzahl aller Bauelemente ausgegeben, die auf allen 8 Leiterplatten bestückt wurden, ab-

züglich der Anzahl der Bauelemente, die im 1. Bestückbereich auf Leiterplatte 1 bestückt wurden.4

Startet man die gleiche Abfrage über SIPLACE Explorer, wird die Gesamtanzahl aller Bauele-

mente ausgegeben, die auf allen 8 Leiterplatten bestückt wurden. 4

In diesem Beispiel wird die aus SIPLACE Explorer ausgegebene Anzahl höher sein, als die An-

zahl aus OIS. 4

Dennoch ist das nicht immer der Fall. Wird Leiterplatte 9 bestückt (in der Grafik im Bestückbereich

1), wird SIPLACE Explorer die Bauelemente nicht zählen, die auf dieser Leiterplatte bestückt wur-

den, und somit weniger Bauelemente als OIS ausgeben. 4

Aus diesem Grund entstehen auch Abweichungen zwischen OIS und SIPLACE Explorer bei der

Ermittlung der Anzahl von Abwürfen von Bauelementen. 4

Folgende Handlungen können Sie über die Seite ausführen und sind in diesem SMA User

Guide beschrieben:

 “So sortieren Sie Tabellen” auf Seite 106

 “So aktivieren Sie Legenden” auf Seite 106

Zeitstempel der Bestückdaten

Bauelemente

Bestückbereich 1

Bauelemente

Bestückbereich 2

Leiterplatten

1 2 3 4 5 6 7 8

T1 T2

1 2 3 4 5 6 7 8 9

= Leiterplatte

= Bauelemente-Datensatz