Koh Young AOIGUI Programming Manual V2.7.4.pdf - 第118页
K oh Y oung Technolog y Inc. 118 在检测算法目录中选择 封装类型。 查看要检测的不良类型 ，勾选相应的 复选框。 ※注 : 通常选择 Capaci tor 和 Resistor 为 Chips 或 Standards ，其他元件选择 S tandards 。
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在AOIGUI可定义各不良类型的检测算法及封装类型。请查看确认封装的实际尺寸和其他信息是否正确
输入。
按照以下步骤定义检测算法和封装类型。
点击AOI GUI用户界面左上侧的选项选项卡。
在PCB Viewer上选择要定义的元件，或者在右上侧的封装编辑选项卡选择要定义的元件。
确认尺寸与封装的实际尺寸是否相同。
当元件没有封装信息时，点击数据库管理器找出相关信息后适用。要生成新的封装尺寸或编辑
封装信息时，首先要在Create default Package窗编辑。
点击右上侧的检测条件选项卡。
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在检测算法目录中选择封装类型。
查看要检测的不良类型，勾选相应的复选框。
※注: 通常选择Capacitor和Resistor为Chips或Standards，其他元件选择Standards。
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默认封装类型
SMT(Surface Mounting Technology)有几种默认封装类型，各封装具有典型的形状和特性。为了既更快
又更容易的检测条件设置，AOI GUI提供对默认封装类型的基本信息。设置检测条件之前，要在封装编
辑选项卡对封装类型下定义。
以下为SMT通用的所有默认封装类型：