可焊性测试仪标准IPC J-STD-002C CHINESE-2008.pdf - 第58页

4 ) 可焊性 测试助 焊 剂 成 分 在在全 球 范 围 内 的标 准 化 J-STD-002/J-STD-003 委员会的第 二 个主 要 目 标 是 开发可在电子 行 业 内 推广 全 球 标准 化 的 测试方法 及标准。 由 委员会 选定 和 测试 的标准 活 性 助 焊 剂 成 分 已 经 被 国 际 电工委员 会( IEC ) 60068-2-20 焊接技术规范所 采 用 。 IEC 技术规范 被 成 功 地用于 可焊性 测…

100%1 / 68
附录F
J-STD-002/J-STD-003委员会关于可焊
性测试采⽤活性助焊剂合理性的公开信
目前J-STD-002/J-STD-003技术规范所包
剂测试方法可焊性测试中所
不同。体体3.3.2表中
J-STD-002/J-STD-003委员会为要研究提
出的任何关ROLO的标R使用
,并要求提标准
适用性的测试数据J-STD-002/J-STD-003
花费了大量的资源于助改变问题
详细化学个公司
成的实验设计
DoEJ-STD-002委员会的
主席,Rockwell CollinsDave HillmanTexas
器的Doug RommIntersil公司的Mark Kwoka
Intel公司的Jack McCullen为委员会集了
大量的数据了有关主充分,支
持所提出的材料改变。提出/支持
改变理由总结如
1)对 施非锡涂层是一个主动的可焊性
测试方法
大量的工业研究(1996NEMI表面涂层任务
报告1997NCMS焊料项2000
美国国物理实验室CMMT
A284报告
表明R型助表面涂层
可焊性保护涂层OSP)和 浸金
在元器件和线路使用这些属表面
涂层再是例外,而这些涂层正
速地广应用使用含有
R型助生“错误的不
可焊性测试结果这种结果对元器件/制板
制造商和组装的成本和计划
影响
2减少了可焊性测试的易
J-STD-002/J-STD-003 委员会得到了Carol
Handwerker博士,并利用美国国
准与技术会(NIST)的资源,查/
了标准R型助
Raytheon System公司的Bill RussellNIST
人员成的详细计分示了使用标准
可大大减少可焊性测试
量。J-STD-002/J-STD-003委员会的主要
开发可在推广
性的测试
方法及标准。
3)可 评估安量的损失问题
R型助个主要历史原因1
香只包含然产剂活
此不易剂供应商化学问题/
复杂性的影响2如果使用R型助剂后
元器件线路表面的可焊性测试
结果可接那么在组装工艺中使用活
强的也将能产可接的焊接工
结果
的事实。可焊性评定安
是行提出并一
J-STD-002/J-STD-003委员会了使用R型助
历史并同烈希望
维持可焊性评定安委员会根据
表面涂层的技术发剂供应商
剂化学、不要有的会
影响成本和计划
量的愿望,对一工业做出
反应重
了可焊性。委员会了一
测试WengerKwogaACI在业
的实元器件和线路使用具
标准的性含量,错误的可接受”
可焊性测试结果的出现率相当
ROL1测试 –未ROL0测试 制板
组装中失效这种结果。事实上
焊接性能使用ROL1ROL0
可能产生“错误拒收”浸
观察可焊性
测试结果情况
表3-1 助焊剂成分
构成
成分的重量百分⽐
1号助焊剂 2号助焊剂
25±0.5 25±0.5
二乙胺盐酸盐
CAS 660-68-4
0.15±0.01 0.39±0.01
异丙醇IPA
CAS67-63-0
0.2 0.5
200811 IPC/ECA J-STD-002C附修订本1
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4可焊性测试助在在全的标
J-STD-002/J-STD-003委员会的第个主
开发可在电子推广标准
测试方法及标准。委员会选定测试
的标准电工委员
会(IEC60068-2-20焊接技术规范所
IEC技术规范 地用于可焊性测试
J-STD-002/J-STD-003技术规范与IEC技术规
范的要求的性对电子组装
和元器件/线路板制造商是一个
主要的剂化学供应商已询问了电
子工业标准的能力,得
到了响应有任何IPC
技术员,取更详细的资料。
IPC/ECA J-STD-002C附修订本1 200811
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附录G
润湿称量测试中焊料润湿曲线参数图⽰
时间
0
(mN)
F1
0
T1
F2
T2
润湿曲线图
浮力
时间s
s
F1
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T1
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时间
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(mN)
浮力
时间s
润湿曲线图
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