1_3_TR7700_SIII_Series_Software_ch-v2.4_20140515.pdf - 第102页
Test Research, Inc. 86 TR7700 SIII Series User G uide – Software 3.8.4 二極體、鉭質電容 圖 126 ：二極體、 鉭質電容元 件所需檢 測框說明 演算法： OCV 框 用途：檢測錯件 演算法：Ｐ atMatch/ Chip 框 用途：檢測缺件 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測空焊 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測空焊 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測極反
Test Research, Inc.
TR7700 SIII Series User Guide – Software 85
圖 124：排阻元件所需檢測框說明
3.8.3 三角晶體(SOT)
圖 125：三角晶體元件所需檢測框說明
演算法：Ｂridge 框
用途：檢測短路
演算法：PatMatch 或
Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Void 框
用途：檢測空焊
演算法：PatMatch 或
Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
Test Research, Inc.
86 TR7700 SIII Series User Guide – Software
3.8.4 二極體、鉭質電容
圖 126：二極體、鉭質電容元件所需檢測框說明
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Ｐ
atMatch/ Chip 框
用途：檢測缺件
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測極反
Test Research, Inc.
TR7700 SIII Series User Guide – Software 87
3.8.5 三極管(TO)
圖 127：三極管元件所需檢測框說明
演算法：CortMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路