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Test Research, Inc. 92 TR7700 SIII Series User G uide – Software 4 開始檢測 當基本程式製作流程 ( 包含編輯元件資料庫 ) 全部 完成後，使用者 可以選擇 工具列的 " 開始 ” ，選 定流程 ，並點選 進行板子檢測。檢 測完成後，系統會切換到 生產模式視窗。若是要 進行微調動作，需按下 進入到檢測結果視窗 。這兩個視窗的介 面說明將說明於以下章 節。 4.1…
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TR7700 SIII Series User Guide – Software 91
3.8.9 鋁質電容(CAE)
圖 131：鋁質電容元件所需檢測框說明
演算法：Void 框
用途：檢測空焊
演算法：Patmatch 框
用途：定位 Void 框
演算法：Patmatch 框
用途：檢測錯件
演算法：Void 框
用途：檢測極反
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92 TR7700 SIII Series User Guide – Software
4 開始檢測
當基本程式製作流程(包含編輯元件資料庫)全部完成後，使用者可以選擇工具列的"開始”，選
定流程 ，並點選 進行板子檢測。檢測完成後，系統會切換到
生產模式視窗。若是要進行微調動作，需按下 進入到檢測結果視窗。這兩個視窗的介
面說明將說明於以下章節。
4.1 生產模式視窗
圖 132：生產模式大圖說明
檢測結果區：檢測結果區分為良品及不良。
板子資訊區：顯示機台掃描、檢測、機台警告訊息、機種名稱、條碼資訊…等。
良率資訊區：左邊良率區可依電路板、子板、元件、檢測框來做分析。右邊則以數字
顯示數量及百分比。
不良元件資訊區：前十大不良分析可依據類型及元件來顯示，並提供圓餅圖及詳細數
字列表。
軌道示意圖：顯示電路板所在軌道位置。
不良元件
資訊區
良率資訊區
板子資訊區
檢測結果區
軌道示意圖
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4.2 檢測結果視窗
此視窗顯示的是依照使用者製作的元件檢測框進行板子檢測後，判定為不良的部分。此視窗包
含兩個部份，一個是不良列表區，一個是原圖切換按鈕區，如下圖所示。
圖 133：原圖調適介面說明
不良列表區採用樹枝狀結構，依序為板號、元件名稱，最後是檢測框，如下圖所示。當使用者
使用左鍵點選任何一個元件檢測框後，在原圖區系統會自動跳到該檢測框上。此時，使用者可
以判斷不良的原因是否正確，假如是誤判，使用者可以使用調整檢測框的參數設定來改善。
圖 134：不良列表結構說明圖
使用者也可以使用原圖切換按鈕區來進行不良檢測框的切換，功能說明如下。
不良列表區
原圖切換
按鈕區
板號
元件名稱
檢測框名稱/
不良原因