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Test Research, Inc. TR7700 SIII Series Us er Guide – Software 33 圖 42 ：調整檢測 框與元件大 小相符 - Chip 元件 3) 點選 ” 模組化資料庫 ” 頁籤，會跳出如下圖 的視窗。 圖 43 ：模組化資 料庫
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3.2 製作元件資料庫
在資料庫編輯介面下，使用者主要有兩種方式來產生元件所需的檢測框。一種是直接套用模組
化資料庫(初學者建議使用)，一種是以手動方式一個一個增加檢測框。我們將分別說明如下：
套用模組化資料庫：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一
個元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。若要移動
到另外一個元件的原圖畫面，直接在元件清單顯示區點選另一個元件即可。另外，
若要回到大圖模式，在沒有 CAD 方格的地方點選滑鼠兩下即可。
圖 41：進入元件原圖
2) 點選 CAD 方格，並調整其大小與元件大小相符，如下圖所示。
點選滑鼠左
鍵兩下欲製
作檢測框的
元件
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圖 42：調整檢測框與元件大小相符- Chip 元件
3) 點選”模組化資料庫”頁籤，會跳出如下圖的視窗。
圖 43：模組化資料庫
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4) 選擇與原圖中元件相對應的元件圖式。以範例來說，原圖中的元件為晶片電容，所以
我們需選擇其對應的圖示 。點選之後，系統會自動產生此元件所需的檢測框，
如下圖所示。
圖 44：套用模組元件庫來產生元件所需的檢測框
5) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測框
的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數，將說明於接下來的章節。
6) 對於有導腳的元件，使用者需要使用到導腳框的功能，以下將以 IC 元件來作示範，或
參閱 5.3.10。同步驟 2)，使用者須將元件本體框調整至與元件本體大小相同，如下圖
所示。(對於較大的元件，請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)