1_3_TR7700_SIII_Series_Software_ch-v2.4_20140515.pdf - 第104页
Test Research, Inc. 88 TR7700 SIII Series User G uide – Software 3.8.6 積體電路 ( IC ) 圖 128 ：積體電路 元件所需檢 測框說明 演算法： OCV 或 OCR 框 用途：檢測錯件 演算法： Lead 框 用途：檢測腳翹 演算法：Ｖ oid 框 用途：檢測空焊 演算法：Ｂ ridge 框 用途：檢測短路 演算法： Void 框 用途：檢測錫多或錫少
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TR7700 SIII Series User Guide – Software 87
3.8.5 三極管(TO)
圖 127：三極管元件所需檢測框說明
演算法：CortMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：OCV 框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
Test Research, Inc.
88 TR7700 SIII Series User Guide – Software
3.8.6 積體電路(IC)
圖 128：積體電路元件所需檢測框說明
演算法：OCV 或 OCR
框
用途：檢測錯件
演算法：Lead 框
用途：檢測腳翹
演算法：Ｖoid 框
用途：檢測空焊
演算法：Ｂridge 框
用途：檢測短路
演算法：Void 框
用途：檢測錫多或錫少
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TR7700 SIII Series User Guide – Software 89
3.8.7 QFN
圖 129：QFN 元件所需檢測框說明
演算法：
OCV 或 OCR 框
用途：檢測錯件
演算法：Bridge 框
用途：檢測短路
演算法：CorMatch 框
用途：檢測腳翹
演算法：Void 框
用途：檢測錫多或錫少