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Test Research, Inc. 34 TR7700 SIII Series User G uide – Software 4) 選擇與原圖中元件相對 應的元件圖式。以範例來 說，原圖中 的元件為晶片 電容，所以 我們需選擇其對應的圖 示 。點選之後，系統會自 動產生此元件所需的檢測 框， 如下圖所示。 圖 44 ：套用模組 元件庫來產 生元件所 需的檢測框 5) 接著，調整每個檢測框 的大小與參數，來達到該 檢測框所要 檢測的項…
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圖 42：調整檢測框與元件大小相符- Chip 元件
3) 點選”模組化資料庫”頁籤，會跳出如下圖的視窗。
圖 43：模組化資料庫
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34 TR7700 SIII Series User Guide – Software
4) 選擇與原圖中元件相對應的元件圖式。以範例來說，原圖中的元件為晶片電容，所以
我們需選擇其對應的圖示 。點選之後，系統會自動產生此元件所需的檢測框，
如下圖所示。
圖 44：套用模組元件庫來產生元件所需的檢測框
5) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。關於檢測框
的檢測影像處理方式、對比方式以及其檢測原理與參數，將說明於接下來的章節。
6) 對於有導腳的元件，使用者需要使用到導腳框的功能，以下將以 IC 元件來作示範，或
參閱 5.3.10。同步驟 2)，使用者須將元件本體框調整至與元件本體大小相同，如下圖
所示。(對於較大的元件，請使用滑鼠的滾輪來縮放元件大小)
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圖 45：調整檢測框與元件大小相符- IC 元件
7) 接著，點選 後，在 IC 的導腳上排最左邊的導腳上拖曳出檢測框，如下圖所示。
圖 46：調整檢測框與元件大小相符- IC 元件
8) 輸入導腳框的群組名稱後，按下”OK”。