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Test Research, Inc. 38 TR7700 SIII Series User G uide – Software 圖 51 ：旋轉複製 導腳框 15) 最後，同步驟 3) ，點選 ” 模組化資料庫 ” 頁籤，並 點選 ，系統會自動產生所 有的檢測框。 圖 52 ：套用 IC 模組 資料庫
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圖 49：在同一排產生多個導腳框
13) 此時，再次選取上排所有的導腳框後，點選 並選擇 X 軸，系統會在ＩＣ
元件的下方一排導腳上產生導腳框。
圖 50：鏡射多個導腳框
14) 接著，選取上下兩排所有的導腳框，點選 並選擇 90 度，系統會在ＩＣ
元件的左右兩排導腳上產生導腳框。
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38 TR7700 SIII Series User Guide – Software
圖 51：旋轉複製導腳框
15) 最後，同步驟 3)，點選”模組化資料庫”頁籤，並點選 ，系統會自動產生所
有的檢測框。
圖 52：套用 IC 模組資料庫
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16) 同步驟 5)，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。
手動增加檢測框：
1) 直接在元件清單顯示區點選想要製作檢測框的元件上按兩下，或者在大圖上任何一個
元件的 CAD 方格(本體框)上點選兩下，即可進入該元件的原圖畫面。
2) 點選左上方工具列中的
3) 在原圖畫面上想要新增檢測框的位置拖曳一個適當大小的檢測框。
4) 系統會自動跳出以下視窗，使用者需選擇此新增檢測框的演算法與缺陷類別。
圖 53：新增檢測框設定視窗
5) 若要刪除檢測框，可以點選欲刪除的檢測框後，按下 或者熱鍵[Del]來刪除。
6) 接著，調整每個檢測框的大小與參數，來達到該檢測框所要檢測的項目。