操作手册-2016_CH_.pdf - 第51页

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3.2.17 OCV 算法
3.2.18 OFFset 算法
左图为”OCV”算法的检测
示意图,此算法主要检测
别,来检测是否使用了正
确的元件。
左图”OFFset”的检
测示意图,此算法主要用
在检测 BGA 元件的本体
偏移检测。
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3.2.19 OTHER 算法
3.2.20 PadPlace 算法
”OTHER
检测示意图,此算法主要
作为图像对比的方法来进
行检测,此算法用途广泛,
但针对性较差,故在软件
中一般做为其他算法的补
充。
左图为”PadPlace”算法的
检测示意图,此算法主要
的位置进行检测。
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3.2.21 PIN 算法
3.2.22 PINSolder 算法
”PIN”
图,此算法主要用来检测多脚件
的引脚及引脚焊接情况,如
锡、虚焊、空焊、无引脚的检
测项。
”PINSolder”
测示意图,此算法是”PIN”算法
的改进算法,”PIN”算法中的
测试项目合并,并进行了相应
的操作简化,以达到更好的检
测效果。