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6 - 60 Tg 1298 -ID-OP 7.1.2 基板認識データの編集 基板認識テストのための各種データを設定します。 (1) マーク形状 ［▼］ボタンを押してください。 以下のマーク形状設定画面が表示されます。 Fig.2F49 生産する基板の認識マークが基板マークのとき、 ［基板マーク］ ボタンを押してください。Fig.2F49 の画面が表示されます。 スルーホールのとき、 ［スルーホール］ボタンを押してください。 Fig.2…
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7.1.1 基板認識テスト実行手順
(1) テーブル上にテストする基板を位置決めします。
[ 運転方法設定 ] 画面で、指定したダミー基板投入位置に基板を
セットして［基板位置決め（始動）］ボタンを選んで、前面操作
パネルの［始動］ボタンを押してください。
基板が位置決めされ基板認識マーク上にカメラが移動します。
(2) 基板認識テストのための各種データを設定します。
詳細については、“7.1.2 基板認識データの編集”を参照し
てください。
(3) [ カメラ移動操作 ] メニューで、基板認識テストする基板認識
マークがカメラ視野（認識範囲）に入るように、基板認識カメ
ラを移動させます。
詳細については、“7.1.3 カメラ移動操作”を参照してくだ
さい。
(4) ［認識テスト実行（始動）］ボタンを選択して、前面操作パネル
の［始動］ボタンを押してください。
基板認識テストが作動します。
•
認識が正
常に終了すると、基板認識マークが“カメラモニタ”
画面のセンタに位置するように、カメラが移動します。
•
認識が NG の場合は、異常表示（認識異常）されます。
ノート
基板認識テストは何回でも実施できます。
基板認識カメラを移動（目合わせ移動）させて、基板認識マー
クをいろいろな位置にして確認操作することができます。
(5) ［ユニット復帰（始動）］ボタンを選択して、前面操作パネルの［始
動］ボタンを押すと、基板認識カメラ軸が原点復帰し、基板は
ダミー基板投入位置へ戻ります。
7.1 “基板認識テスト”タブ
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7.1.2 基板認識データの編集
基板認識テストのための各種データを設定します。
(1) マーク形状
［▼］ボタンを押してください。
以下のマーク形状設定画面が表示されます。
Fig.2F49
生産する基板の認識マークが基板マークのとき、［基板マーク］
ボタンを押してください。Fig.2F49 の画面が表示されます。
スルーホールのとき、［スルーホール］ボタンを押してください。
Fig.2F50 の画面が表示されます。
角ランドのとき、
［角ランド］ボタンを押してください。
Fig.2F51 の画面が表示されます。
基板マークの形状に合ったボタンを押してください。例として
基板のマークが円のときは［円形］ボタンを押してください。
Fig.2F50 Fig.2F51
7.1 “基板認識テスト”タブ
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(2) マークサイズ D1、D2
選択する［データ］ボタンを押して、テンキーでデータを入力し、
［設定］ボタンを押してください。
必要に応じて［AC］ボタンを押して、データをクリアしてくだ
さい。
(3) 認識領域
［データ］ボタンを押して、テンキーでデータを入力し、［設定］
ボタンを押してください。
必要に応じて［AC］ボタンを押して、データをクリアしてくだ
さい。
(4) 照明
[ データ ] ボタンを押してください。
“通常”、“リンク”、“両点灯”の順に切替ります。
(5) 明暗極性
［データ］ボタンを押してください。
“明”と“暗”に交互に切替ります。
(6) 形状判定レベル
［データ］ボタンを押してください。
“高”、“中”、
“低”の順に切替ります。
(7) 認識方式
[ データ ] ボタンを押してください。
“マーク”、“モデル”、“モデル + マーク”の順に切替ります。
(8) ゲイン、レベル
［データ］ボタンを 2 回押してください。
［AC］ボタンを押してデータをクリアしてください。
テンキーでデータを入力し、［設定］ボタンを押します。
または、［▲］、［▼］ボタンを押してデータを 1 ずつ増減できます。
各データ項目の説明については、“第 3 巻 データ 2 章 2.7”
を参照してください。
7.1 “基板認識テスト”タブ
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