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BM122/123/221/231 元件识别数据制作方法 4.5 识别可选项：高频度 4 E35CCC-32- 241-A1 4.5-8 4.5.8 芯片竖立吸附 检查 适用型号 穿过箱型 100 箱型 101 内部电极型 102 外部电极型 103 导线型 104 BGA 型 105 复合型 106 元件检查 可选项 可复数指定 功能 进行芯片的竖立吸附、 未吸附、反面时的吸 附状态的检查 时指定。 说明 在进行本检查…
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.5 识别可选项：高频度 4
E35CCC-32-241-A1
4.5-7
4.5.7 横向竖立检查
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
元件检查
可选项
可复数指定
功能
进行两端 2 接头元件的横向竖立检查。
说明
在进行本检查时，电极宽度或者元件中央部分的宽度需要有大幅度地变化。
设定
横向竖立时的电极厚度
请参照图形输入厚度。
横向竖立检查方法
请选择横向竖立时，与通常情况相比下列哪些项目
发生了变化。
‘电极宽度变化’：
电极宽度变小。
‘中央宽度变化’：
明亮的元件本体，其中央宽度变小。
‘中空’：
中间为空洞
临界值
请选择‘使用推荐值’。
适用元件例
2 脚二极管
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.5 识别可选项：高频度 4
E35CCC-32-241-A1
4.5-8
4.5.8 芯片竖立吸附检查
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
元件检查
可选项
可复数指定
功能
进行芯片的竖立吸附、未吸附、反面时的吸附状态的检查
时指定。
说明
在进行本检查时，电极或者元件中央部分的明亮度需要
有大幅度地变化。
元件形状的偏差大时，请将设定也稍大些。
设定
电极部分与背景部分的明暗大小（1～255）
电极部分与背景部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
以教学尺寸表示的电极部分的明暗大小（1～255）
由教学尺寸算出的电极位置的大小与检测出的实际的
电极部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
电极上的明暗大小（1～255）
电极部分所分割的各个区域的明暗大小超过设定值会
发生错误。
元件部分与背景部分的明暗大小（1～255）
元件部分与背景部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
元件部分的明暗偏差度（1～999）
元件部分的明暗偏差度（3σ）超过设定值会发生错误。
适用元件例
方芯片电阻、方芯片电容器
电极部分
电极部分
背景部分
电极部分
元件部分
背景部分
元件部分
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.6 识别可选项：中频度 1
E35CCC-32-271-A1
4.6-1
4.6. 识别可选项：中频度 1
E35CCC-32-271-A1
4.6.1 吸附偏差范围
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
定位
可选项
可复数指定
功能
改变识别方框窗的大小。
说明
如果识别后显示的元件图像超出图像处理方框窗，则可以放大图像处理方框窗。
但是，设定标准的方框窗，还具有检测出吸嘴边缘吸附的元件安装不稳的间接功能。所以与其改变识别方
框窗大小时，不如首先稳定吸附位置。
设定
角度的偏差范围
请输入角度的偏差范围。
中心的偏差范围
请输入中心的偏差范围。
适用元件例
托盘与元件之间有很大缝隙时