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BM122/123/221/231 元件识别数据制作方法 4.6 识别可选项：中频度 1 E35CCC-32- 271-A1 4.6-1 4.6. 识别可选项：中频度 1 E35CCC-32-271-A1 4.6.1 吸附偏差范围 适用型号 穿过箱型 100 箱型 101 内部电极型 102 外部电极型 103 导线型 104 BGA 型 105 复合型 106 定位 可选项 可复数指定 功能 改变识别方框窗的大小 。 说明…
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.5 识别可选项：高频度 4
E35CCC-32-241-A1
4.5-8
4.5.8 芯片竖立吸附检查
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
元件检查
可选项
可复数指定
功能
进行芯片的竖立吸附、未吸附、反面时的吸附状态的检查
时指定。
说明
在进行本检查时，电极或者元件中央部分的明亮度需要
有大幅度地变化。
元件形状的偏差大时，请将设定也稍大些。
设定
电极部分与背景部分的明暗大小（1～255）
电极部分与背景部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
以教学尺寸表示的电极部分的明暗大小（1～255）
由教学尺寸算出的电极位置的大小与检测出的实际的
电极部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
电极上的明暗大小（1～255）
电极部分所分割的各个区域的明暗大小超过设定值会
发生错误。
元件部分与背景部分的明暗大小（1～255）
元件部分与背景部分的明暗大小超过设定值会发生错误。
元件部分的明暗偏差度（1～999）
元件部分的明暗偏差度（3σ）超过设定值会发生错误。
适用元件例
方芯片电阻、方芯片电容器
电极部分
电极部分
背景部分
电极部分
元件部分
背景部分
元件部分
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.6 识别可选项：中频度 1
E35CCC-32-271-A1
4.6-1
4.6. 识别可选项：中频度 1
E35CCC-32-271-A1
4.6.1 吸附偏差范围
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
定位
可选项
可复数指定
功能
改变识别方框窗的大小。
说明
如果识别后显示的元件图像超出图像处理方框窗，则可以放大图像处理方框窗。
但是，设定标准的方框窗，还具有检测出吸嘴边缘吸附的元件安装不稳的间接功能。所以与其改变识别方
框窗大小时，不如首先稳定吸附位置。
设定
角度的偏差范围
请输入角度的偏差范围。
中心的偏差范围
请输入中心的偏差范围。
适用元件例
托盘与元件之间有很大缝隙时
BM122/123/221/231
元件识别数据制作方法
4.6 识别可选项：中频度 1
E35CCC-32-271-A1
4.6-2
4.6.2 导线元件倾斜的计算方法
适用型号
穿过箱型
100
箱型
101
内部电极型
102
外部电极型
103
导线型
104
BGA 型
105
复合型
106
定位
可选项
可复数指定
功能
改变元件倾斜度的计算方法。
说明
一般使用自动设定，请在想要改变元件倾斜度计算方法时选择。
设定
计算方法：
请在下列各项中选择。
‘自动’
一般情况采用此设定。
‘相对代表点连线的倾斜度’
求出各个方向上的代表点，计算与其相对边代
表点连线的倾斜度。
‘单边倾斜度’
计算各个边的倾斜度，算出其平均值。
‘检测元件本体倾斜’
根据元件本体轮廓的方向可以决定倾斜度，但
是需要元件本体必须呈淡颜色。