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6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM 6.7 Leitfaden zum B eschreiben vo n Geh ä useformen Softwarevers ion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 D E 356 6 Abb. 6.7 - 4 Flussdiagram m ’ Programm ieren und T esten eine…

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Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM 6 Visionfunktionen
Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
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6
Abb. 6.7 - 3 Flussdiagramm Programmieren und Testen einer Gehäuseform (GF),
Teil 1 - Linienrechner
Beachten Sie bitte, daß bei
den Standard-GFs durch
BE-TESTEN eine Änderung
der BE-Erkennung vorge-
nommen werden kann.
(nötigenfalls GF-file
[_.SST file] umkopieren)
GF Datei mit Nr. >1499
programmieren
Gehäusetyp wählen
Unregelmäßige
FDC
Regelmäßige
F
ully defined Comp.
P
artially defined
C
omponent
Ball Grid Array
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
KörperdimensionenKörperdimensionen Körperdimensionen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
SICHERN
Fortsetzung der Programmierung an der Station
Beinchengruppen-,
Beinchenmodell-
daten programm.
Beinchengruppen-,
Beinchenmodell-
daten programm.
Ballraster-,
Ballmodelldaten
programm.
Neues Bauelement
GF-Datei
vorhanden?
Nein
Ja
Dateizusatzinformationen programmieren
Neues Bauelement
GF-Datei
vorhanden?
GF-Datei mit Nr. >1499
programmieren
Nein
Gehäusetyp wählen
P
artially defined
component
Anwenderkommentar
eintragen
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
Regelmäßige
F
ully defined comp.
Unregelmäßige
FDC
Ball Grid Array
Körperdimensionen
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
daten programmieren
SICHERN
Dateizusatzinformationen programmieren
Fortsetzung der Programmierung an der Station
Beachten Sie bitte, dass
bei den Standard-GFs
durch BE-TESTEN eine
Änderung der BE-Erken-
nung vorgenommen
werden kann.
(Wenn nötig, GF-Datei
[_.SST] umkopieren)
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
Körperdimensionen Körperdimensionen
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
daten programmieren
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
daten programmieren
Ja
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM
6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE
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Abb. 6.7 - 4 Flussdiagramm Programmieren und Testen einer Gehäuseform (GF),
Teil 2 - Stationsrechner
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
Im Visionsystem BE testen GF nach Bedarf verändern
Revolverkopf
GF (BE) abholen
Pick & Place - Bestückkopf
GF (BE) abholen
BE darstellen BE messen
GF (BE) prüfen, Return für
für nächsten Meßschritt
BE darstellen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Meßschritt
GF (BE) messen
Meßvorgang mehrmals wiederholen
(BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
Immer gleich ?
Mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
5. Bauteildimension verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
3. Beleuchtung verändern
2. Bauelement darstellen
1. Handling-Fehler: Abholwinkel,
Pipettentyp, BE an Pipette, etc.
Nein
Nein
Ja
Tritt Fehler-
meldung auf?
Ja
1. Handlingfehler: Abholwinkel
Pipettentyp, BE an Pipette etc?
2. BE darstellen
3. Beleuchtung verändern
4. Messmodi und
Messparameter verändern
5. BE-Dimension verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
BE mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muss die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden.
Ja
Nein
Immer gleich?
Nein
Tritt Fehler-
meldung auf?
Messvorgang mehrmals wieder-
holen (BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
GF (BE) messen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Messschritt
BE darstellen
Collect&Place-Kopf
GF (BE) abholen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Messschritt
BE darstellen
BE messen
Pick & Place- Bestückkopf
GF (BE) abholen
Im Visionmodul "BE testen" GF nach Bedarf verändern
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
Ja
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Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
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6.7.3 Bauformen und mögliche Messmethoden zur Grob- und Feinzentrierung
6
Sind einer oder mehrere der Resultatwerte ausserhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt. 6
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead:
Kombinierte Aus-
wertefenster
Lead: Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letzten
Messschritts
PDC ohne Beinchen G/F
X, Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F F
X, Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: X, Y, ∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit
langen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: X, Y,
(∆φ),
Qualität
FDC unregelmäßig
mit kurzen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
X, Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit langen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
X, Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit einer PIN-Reihe,
mehreren PIN-Model-
len oder Teilung
GG F
X, Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
FDCs mit kreisseg-
mentförmigen PIN-
Anordnungen
(G) G F
X, Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
X, Y, (∆φ), Teilung,
Winkel, Qualität)
Tab. 6.7.1