00192661-01.pdf - 第357页
Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM 6 V isionfunktionen Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Geh ä useformen 357 6.7.3 Bauformen und m ö gliche Messmethoden zur Grob- und Feinzent…
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM
6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE
356
6
Abb. 6.7 - 4 Flussdiagramm ’Programmieren und Testen einer Gehäuseform (GF),
Teil 2 - Stationsrechner
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
Im „Visionsystem“ „BE testen“ GF nach Bedarf verändern
Revolverkopf
GF (BE) abholen
Pick & Place - Bestückkopf
GF (BE) abholen
BE darstellen BE messen
GF (BE) prüfen, Return für
für nächsten Meßschritt
BE darstellen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Meßschritt
GF (BE) messen
Meßvorgang mehrmals wiederholen
(BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
Immer gleich ?
Mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
5. Bauteildimension verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
3. Beleuchtung verändern
2. Bauelement darstellen
1. Handling-Fehler: Abholwinkel,
Pipettentyp, BE an Pipette, etc.
Nein
Nein
Ja
Tritt Fehler-
meldung auf?
Ja
1. Handlingfehler: Abholwinkel
Pipettentyp, BE an Pipette etc?
2. BE darstellen
3. Beleuchtung verändern
4. Messmodi und
Messparameter verändern
5. BE-Dimension verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
BE mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muss die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden.
Ja
Nein
Immer gleich?
Nein
Tritt Fehler-
meldung auf?
Messvorgang mehrmals wieder-
holen (BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
GF (BE) messen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Messschritt
BE darstellen
Collect&Place-Kopf
GF (BE) abholen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Messschritt
BE darstellen
BE messen
Pick & Place- Bestückkopf
GF (BE) abholen
Im Visionmodul "BE testen" GF nach Bedarf verändern
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
Ja
Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM 6 Visionfunktionen
Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
357
6.7.3 Bauformen und mögliche Messmethoden zur Grob- und Feinzentrierung
6
Sind einer oder mehrere der Resultatwerte ausserhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt. 6
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead:
Kombinierte Aus-
wertefenster
Lead: Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letzten
Messschritts
PDC ohne Beinchen G/F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y, ∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit
langen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y,
(∆φ),
Qualität
FDC unregelmäßig
mit kurzen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit langen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit einer PIN-Reihe,
mehreren PIN-Model-
len oder Teilung
GG F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
FDCs mit kreisseg-
mentförmigen PIN-
Anordnungen
(G) G F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
∆X, ∆Y, (∆φ), Teilung,
Winkel, Qualität)
Tab. 6.7.1
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE F5/F5 HM
6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Softwareversion SR.407.xx Ausgabe 01/2001 DE
358
Wird das Bauelement korrekt zentriert, kann auf zusätzliche Messmethoden verzichtet werden.
Führen Sie dennoch alle Grobzentrierschritte aus, da diese die Messfenster verkleinern. 6
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
prüfen’ in den einzelnen Messschritten ohne Ausgabe der Messresultate durchgeführt.
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
messen’ in allen Messschritten mit Ausgabe von Messresultaten durchgeführt.
– Sind die Bauelemente größer als 32mm x 32mm, so wird automatisch eine Mehrfachmessung
im Visionsystem durchgeführt.