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CM101-D 操作手册 4.4 芯片识别示教 Pa ge 4- 27 25. 按操作面板的 + [ 连续识别 ] 。 ( 确 认 ) • 连续识别 10 次，显示识别 结果。确认结果后， 按 [ESC] 关闭显示结果。 ( 本操作仅为确认，不一定 必须执行。 ) ∗ 当识别结果 (ANS =) 在识别率 ( 机器参数的 不良判定率 ) 以下时， 请通过进行步 骤 6. ~ 23. 的操作，改变识别点等 方法重新进行。 26. 按操作面…
CM101-D
操作手册
4.4
芯片识别示教
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21.
确认示教后的图像。
•
画面左
:
识别位置
(
点设定
)
画面右
:
识别图像领域
(
图像设定
)
22.
按
[
完成
]
。
•
各区块的示教结束。
23.
按操作面板的
+
[
识别
]
。
•
在识别画面上显示识别结果。
∗
当识别结果
(ANS =)
在识别率
(
机器参数的
不良判定率
)
以下时，通过进行步骤
6. ~ 23.
的
操作，改变识别点等方法重新进行。
24.
按
[
完成
]
。
•
示教结束。
下一页
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22
21
EJM4A-Dm-0022
23
24
EJM5B-C-OMC04-A01-00
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4.4
芯片识别示教
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25.
按操作面板的
+
[
连续识别
]
。
(
确
认
)
•
连续识别
10
次，显示识别结果。确认结果后，
按
[ESC]
关闭显示结果。
(
本操作仅为确认，不一定必须执行。
)
∗
当识别结果
(ANS =)
在识别率
(
机器参数的
不良判定率
)
以下时，请通过进行步骤
6. ~ 23.
的操作，改变识别点等方法重新进行。
26.
按操作面板的
+
[
芯片排出
]
。
•
排出用于识别的芯片。
27.
按功能键的
。
•
4
点区块匹配识别示教结束。
•
此时，示教后的数据将被上载到
PT
上。
EJM4A-Dm-0024
25
EJM4A-Dm-0024
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4.4
芯片识别示教
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4.4.5
关于吸着位置偏移量
吸着位置偏移量是在不能吸着芯片的中心时，以输入离芯片中心的距离来表示吸着位置的。
吸着位置是以元件设置角度
0
°
为基准，以
X, Y
来输入的。输入吸着位置后，吸着位置学习功能就
成为
OFF
。
在芯片数据画面的吸着位置上输入吸着位置偏移量。
∗
芯片数据的参照方法见
“4.4.3
进行芯片识别示教前
”
。
通过执行吸着位置偏移量示教、吸着位置偏移量就被输入到芯片数据的吸着位置
X, Y
中。
EJM5B-Dm-0065
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