00191368-01.pdf - 第316页
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung HS-50 6.7 Leitfaden zum Beschr eiben von Gehäuseformen Software-Version 5.01 Ausgabe 01/99 314 – Im Menü ’BE-T esten ’ wird di e optisc he Zentrie rung der Bauelem ente üb er die Funk…
Betriebsanleitung HS-50 6 Visionfunktionen
Software-Version 5.01 Ausgabe 01/99 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
313
%DXIRUPHQXQGP|JOLFKH0HPHWKRGHQ]XU*UREXQG)HLQ]HQWULHUXQJ
*) LEAD mit kombinierten Auswertefenstern für jede PIN-Reihe ersetzt die CORNER-Meß-
methode.
Die Messung der Teilung wird durch eine Messung der (normierten) Beinchenabweichung er-
setzt.
Sind einer oder mehrere der Resultatswerte außerhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt.
Wird das Bauelement korrekt zentriert, kann auf zusätzliche Meßmethoden verzichtet werden.
Führen Sie dennoch alle Grobzentrierschritte aus, da diese die Meßfenster verkleinern.
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead *)
Kombinierte
Lead Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letztes
Meßschritts
PDC ohne Beinchen G/F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit kur-
zen PIN-Reihen
G F (F)
Max. Abweichung von der
Teilung: ∆X, ∆Y, ∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit lan-
gen PIN-Reihen
G F (F)
Max. Abweichung von der
Teilung: ∆X, ∆Y, (∆φ),
Qualität
FDC XQregelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
G(G)F(F)
∆X, ∆Y, Anzahl PINs (Qua-
lität) max. Abweichung der
Teilung
FDC unregelmäßig mit
langen PIN-Reihen
G(G)F(F)
∆X, ∆Y, Anzahl PINs (Qua-
lität) max. Abweichung der
Teilung
FDC unregelmäßig mit
einer PIN-Reihe, mehre-
ren PIN-Modellen oder
Teilung
GGF
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
FDCs mit kreissegment-
förmigen PIN-Anordnun-
gen
(G) G F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
∆X, ∆Y, (∆φ), Teilung,
Winkel, Qualität)
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung HS-50
6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Software-Version 5.01 Ausgabe 01/99
314
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
prüfen’ in den einzelnen Meßschritten ohne Ausgabe der Meßresultate durchgeführt.
– Im Menü ’BE-Testen’ wird die optische Zentrierung der Bauelemente über die Funktion ’BE
messen’ in allen Meßschritten mit Ausgabe von Meßresultaten durchgeführt.
– Sind die Bauelemente größer als 32mm x 32mm, so wird automatisch eine Mehrfachmes-
sung im Visionsystem durchgeführt.
Betriebsanleitung HS-50 6 Visionfunktionen
Software-Version 5.01 Ausgabe 01/99 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
315
*)7HVWHQ2SWL VFKH'DUVWHOOXQJ0HDUWHQSURJUDPPLHUHQ
Im Menü ’BE testen’ wird ein abgeholtes Bauelement in seine 0°-Lage zur Kamera gebracht
und abgebildet. Am Revolverkopf wird das Bauelement in Bezug auf den Bestückwinkel dar-
gestellt.
Nein
Nein
Ja
Fehler
1. Hantierfehler: Abholwinkel
Pipettentyp, BE an Pipette ?
2. BE darstellen
3. Beleuchtung verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
5. BE-Dimension verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden
BE mehrmals bestücken
Meßvorgang wiederholen
und Meßergebnis prüfen
BE messen
BE messen
RETURN nächste Messung
Ergebnisse
konstant?
Ja