TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0.pdf - 第183页
Test Research Inc. TRI 7500 Series User Gu ide – Software 171 3.7.10 線上元件分析 (I NLINE C OMPONENT A NALYSIS ) 使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。 3.7.10.1 啟動 Cpk 資 料 收集 (Enable Cpk Data Collection) 勾選表示啟動線…
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z [Apply Weighting]－將目前設定的權重套用到這個定位標記檢測上。
設定標記(1)搜尋範圍 – 調整影像畫面中的綠色方塊，使之合乎想要的搜尋範圍，接
著按下[確定]按鈕，即可完成設定。
相似度 – 設定定位標記的敏感度，若設定為 40分，表示在搜尋範圍內找到與標準
影像進行影像比對後，分數超過 40分的物件即認為其為對位標記。
3.7.7 重置 X Y TABLE(RESET X Y TABLE)
按下此按鈕可將 Camera移動至 Table 的原點位置(右上角)。
3.7.8 取出電路板(UNLOAD PANEL)
按下此按鈕可將電路板送至出板端
3.7.9 電路板定位測試(PANEL STANDBY TEST)
勾選此按鈕後可以設定電路板不出板檢測次數。再按一次選項可以取消。
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3.7.10 線上元件分析(INLINE COMPONENT ANALYSIS)
使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看結果。
3.7.10.1 啟動 Cpk 資料收集(Enable Cpk Data Collection)
勾選表示啟動線上元件分析，系統會出現設定視窗。
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X-Shift、Y-shift、Theta 分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移角度。
高、低–位於此範圍內的檢測結果才列入 Cpk 計算。
USL–計算 Cpk公式所需的規格上限
LSL–計算 Cpk 公式所需的規格下限
CpkSpec–可自訂所計算出的 Cpk 容許值，高於此值可視為正常，低於此值視為異
常。
z 無–不自動輸出
z 檢測時間–依照檢測時間自動輸出(單位：小時)
z 檢測次數–依照檢測次數自動輸出