TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0.pdf - 第376页
Test Research Inc. 364 TRI 7500 Series User Gu ide – Software 檢測 參數 設定畫面 教導區 – 設定 [ROI] 框在學習時的 參數 z 敏感 度 – 設定 70 分表示 若 相鄰 兩 畫素間之灰階值 若 相差 30(100-70) 以上的話， 就認定這 兩 個畫素是已存在的邊界。 z 遮罩區 – 設定為 1 的話表示除 了 上述視為邊界的相鄰 兩…
Test Research Inc.
TRI7500SeriesUserGuide–Software 363
檢測參數設定畫面
4.10.2.9 Warp
用來定位同一 FOV內其他檢測框因板彎造成零件之偏移，一個 FOV 內只可以設定一
個 Warp框，若分數不足表示此檢測框失去定位功能，但並不代表電路板上的缺點。
假設板彎在一個 FOV之變形量為相同的前提下，每顆元件和 Warp 有一相對關係，當
板彎發生時該 FOV若有設定 Warp，則 Warp 會先定位算出其偏移量，再將其偏移量
加回各元件才開始計算此 FOV中之零件是否通過檢測。可選擇方法一或方法二作為
[Warp]框所使用的影像比對方式。在 Train 步驟時才可針對所需要的 FOV增加
[Warp]檢測框。
4.10.2.10 ROI
用來檢測表面刮傷，以及金手指沾錫。在 Train步驟時才可針對所需要的部分增加
[ROI]檢測框。
Test Research Inc.
364 TRI7500SeriesUserGuide–Software
檢測參數設定畫面
教導區 – 設定[ROI]框在學習時的參數
z 敏感度 – 設定 70 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 30(100-70)以上的話，
就認定這兩個畫素是已存在的邊界。
z 遮罩區 – 設定為 1的話表示除了上述視為邊界的相鄰兩畫素外，與這兩畫素相鄰
1 個畫素的點都設定為不檢測。
檢測參數區 – 設定[ROI]框在檢測時的參數，檢測時僅針對位在[ROI]框內但教導後
沒有被遮蔽的區域做檢測。
z 檢測敏感度 – 設定 60分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 40(100-60)以上的
話，就認定這兩個畫素是新增的邊界或刮痕。
z 容忍度 – 設定為 5表示若檢測後新增的邊界中有任何一群大於 5 個畫素的話，會
被認定為有瑕疵。
[教導敏感度
]設定數值需大於[檢測敏感度]，表示教導的敏感度要較敏感，否則會產
生太多誤判。
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TRI7500SeriesUserGuide–Software 365
4.10.2.11 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷，以及 IC翹腳。
檢測參數設定畫面
B/W Threshold – 判定黑與白分野的灰階門檻值
>Threshold – 選擇此項表示只判斷灰階值大於門檻值的影像。
<Threshold – 選擇此項表示只判斷灰階值小於門檻值的影像。
Both – 選擇此項表示系統會判斷灰階值大於或小於門檻值的影像。
Defect Pixel Count –系統會將超出門檻值的畫素(pixel)標示出來，並將其中相鄰的
畫素視為同一群組。在左右的空格內各填入認為是缺點群組的最小值及最大值範
圍。若填入數值為 50< Defect Pixel Count<500表示若抓出的缺點群組大小為
50~500 間，則會認為此群組為缺點。
Principal axis aspect ratio> – 若抓出群組的長寬比大於所輸入的值的話才視為缺
點。本功能可用在抓翹腳時影像出現白邊的長寬比。若輸入 0表示此項目不檢測。
Change to < – 勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小
於，即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
4.10.2.12 Edge Window
檢測參數設定畫面
Edge threshold – 相臨 pixel 之灰階差異門檻值。