TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0.pdf - 第469页

Test Research Inc.  TRI  7500  Series  User  Gu ide – Software  457   PPY Yield – ( 檢測為正常板 數量 + 誤判的板 數 )/ 電 路 板總 數 *100%  PPY DPPM – [( 確認為 不良 的元件 數 + 誤判的元件 數 )/ 元件總 數 ]*1000000  PPY DPMO – [( 確認為 不良 的檢測框 數 + 誤…

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統計結果(Yield Statistic) – 將電路板檢測結果統計列表，可選擇[By Panel]表示以大
板子數量統計，[By Board]表示以多連板的小板子作統計，[By Component]表示以
元件數量作統計。
z 電路板總數(Total Test Board Count) – 檢測過的電路板總數，以單板計。
z 正常板數量(PASS Board Count) – 測試結果為通過的電路板數。
z 瑕疵板數量(FAIL Board Count) – 測試結果為瑕疵板的電路板數。
z 檢測錯誤數量(Fail-to Confirm-PASS Board Count) – 測試結果為錯誤但經由人工
判斷為通過的板子數目。
z 警告設定(Alarm Setting) – 可依[By Panel]，[By Board]，[By Component]的不良
率超過多少後會警報。[Alarm after test count]表示測試多少片後開始本警報功
能。警報時會顯示以下畫面。
z Repair mode – 勾選表示與維修站連結，顯示維修站經確認後回傳的統計結果。
使用此功能維修站須配合將[Setting/Other/SPCOutPut]選項設定為[True]。若要
顯示 DPMO欄位，須在維修站端以[Window]模式 Confirm資料。
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PPY Yield – (檢測為正常板數量+誤判的板數)/電路板總數*100%
PPY DPPM – [(確認為不良的元件數+誤判的元件數)/元件總數]*1000000
PPY DPMO – [(確認為不良的檢測框數+誤判的檢測框數)/(電路板總數*板子上
總檢測框數)]*1000000
FPY Yield –檢測為正常板數量/電路板總數*100%
FPY DPPM – [(確認為不良的元件數)/總元件數]*1000000
FPY DPMO – [(確認為不良的檢測框數)/(電路板總數*板子的總檢測框
數)]*1000000
# – 點選本按鈕，會出現空白欄位供使用者自行輸入檢測的[電路板總數]、[瑕疵板
數量]及[檢測錯誤數量]。輸入完成後再按[#]按鈕一次即完成設定，系統會將設定的
數字帶入統計結果欄位中。
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檢測時間欄位 – 顯示檢測次數、總檢測時間及尋找定位點的時間。
瑕疵板統計(Fail Statistic) –列出發生的瑕疵種類次數及百分比。
Fail Rank–將元件發生瑕疵的排名列出來。可選擇依元件或依類型列出不良排序。
若在登錄檔中([開始/執行]鍵入[regedit]後按[確定]，
[HKEY_LOCAL_MACHINE\SOFTWARE\TRI]路徑下)，參數值
[SaveTop10FailImage]設定為 1 時，系統會儲存前 10名不良元件上一次檢測為不
良的影像。可直接點選元件名稱，在 FOV影像區域檢視儲存的影像。