TR7500_Series_Software_ch-v5-0-0.pdf - 第343页
Test Research Inc. TRI 7500 Series User Gu ide – Software 331 4.9.8.2 屬性 (Property) 在此可以設定檢測框屬性的 參數 ，屬性設定 說 明如下： (pin-1) – 表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼， 若 為 -1 表示此檢測框 不 檢測任何 IC 腳。 元件形式 – 顯示元件的封裝形式 名稱 – 顯示選擇的檢測…
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Step4. 給予新瑕疵名稱並輸入在[瑕疵]欄位中，接著按下[新增瑕疵]按鈕，此檢測方
法即設定完成。
Step5. 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則須將邏輯複製到其他 IC腳
上相對應的檢測框上，對於系統詢問按下[是]。
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4.9.8.2 屬性(Property)
在此可以設定檢測框屬性的參數，屬性設定說明如下：
(pin-1) – 表示選擇的檢測框檢測的 IC 腳的號碼，若為-1 表示此檢測框不檢測任何
IC 腳。
元件形式 – 顯示元件的封裝形式
名稱 – 顯示選擇的檢測框名稱
角度 – 顯示此元件的角度，若本顆元件角度錯誤可在此直接修正。
X – 顯示檢測框中心點所在的 X 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
右為正。
Y – 顯示檢測框中心點所在的 Y 方向座標位置，以元件本體框中心位置為原點，向
上為正。
DX – 顯示檢測框水平方向的長度，單位為 um。
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DY – 顯示檢測框垂直方向的長度，單位為 um。
RGB – 顯示所點選的檢測框的權重。但對於 Missing 及 Lead 框，其影像的權重無
法在此顯示，需進入權重設定視窗查看。
測試(Test) – 下拉式選單選擇此檢測框是否要測試。
攝影機(Camera) – 選擇此檢測框要使用哪一支攝影機取像。
光源(Lighting) – 選擇一個此檢測框要使用的光源。
方法(Method) – 可由此選擇檢測框的檢測方法。
錯誤結果(Fail String) – 可以在製作 Library 時即針對檢測框選定[錯誤結果(Fail
Result)]字串值。例如放在電阻類型元件本體上方來測定元件是否翻面的[Void]框，
就可以將其錯誤結果設定為[Upside Down]，則若本檢測框檢測後結果為不良，傳
出的錯誤結果就是[Upside Dow]而不會是[Void]框預設的[VoidFail]。若無設定則系
統會以預設的定義為檢測結果。
Inverse – 設定為[True]表示將本檢測框的[逆邏輯]功能打開，被設定逆邏輯的檢測
框檢測後，若其結果為通過比對條件則系統會顯示 Fail，而未通過比對條件者系統
會顯示[Pass]。
搜尋範圍(Search Range) – 勾選可以設定 Missing框或 Lead框的搜尋範圍。若有
在此設定則會在後方 X及 Y 欄位顯示搜尋範圍大小(單位為 um)，此欄位只能顯示
而不能輸入。若沒有設定則在 X 及 Y欄位中顯示 0，且在轉入主程式後系統會以預
設值自動設定搜尋範圍。
Step1. 打開屬性視窗並勾選[搜尋範圍]，而編輯視窗上會出現紫紅色粗實線方框。
Step2. 點選欲設定搜尋範圍的檢測框，並調整紫紅色功能方塊的大小，使之合乎欲
設定的搜尋範圍大小。搜尋範圍不可比檢測框還小。
Step3. 按下[設定]按鈕，即可將搜尋範圍設定完成。此時系統顯示搜尋範圍的 X 方
向及 Y方向長度。
Step4. 設定完成的搜尋範圍以紫紅色細線表示