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Rev 1.0 动作说明书 3-18 3-5-2-2 吸附上升时的 Z 轴动作 根据元件识别方式 ( L A 、 VCS) 、 有无元件检 测方式 ( L A 、真空 ) ，分为 2 个行程分类。 ( 参照下表 ) 待机高度 吸附高度 2 C C2 C1 右图表示行程分类 C 。 行程分类 LA E 识别方式 VCS C E LA 检测有无元件 真空 1) 行程区分 C V C S 识别， Va 检测 基板 …
Rev 1.0
动作说明书
3-17
3-5-2 Z轴的动作行程
各机种的 XY 移动高度, 激光高度, VCS 识别高度 (单位∶mm)
XY 移动高度
机种 原稿高规格 贴装头
基板上 除基板上以外
激光高度 VCS识别高度
(1) JM-20 28 LNC 31 31 39.5 28
(2) JM-20 55 LNC 58 58 67.0 28
(注 1) 高度为离基板上面的距离
各机种 Z 轴驱动行程计算条件 (单位: mm)
t: 激光测定高度
t
h
h: 元件厚度
元件厚度 h = 0.8
激光测定高度 t = 0.4
吸附压入量 0.2
贴装压入量 0.5
2 段控制高度 2.0
(注 1) 吸附压入量和贴装压入量将上表作为默认，元件数据可以变更。
(注 2) 吸附下降·吸附上升·贴装下降·贴装上升个别元件数据可以分高速·中速·低速·低速 2 进
行设定。
(注 3) 吸附下降·吸附上升·贴装下降·贴装上升、分中速、低速·低速 2，2 阶段设定。
(注 4) 2 阶段控制高度将上表作为默认，可以在机械控制参数变更。
(注 5) 通过激光进行零件检测的高度，LA 识别零件时为激光测量高度、VCS 识别零件时为 h/2。
(注 6) 插入式元件（贴装时）的 2 阶段控制高度作为生产程序的引脚长度。
3-5-2-1 吸附下降时的Z轴动作
与元件识别方式 (LA, VCS)无关分为 1 个行程。
吸附高度
A1
A2
A
2
待机高度
1) 行程分类 A
LA, VCS识别
Z 轴的吸附下降为从 XY 移动高度下降。
移动量 A＝XY 移动高度＋吸附压入量
移动量 A1＝XY 移动高度－2
移动量 A2＝2＋吸附压入量。
吸附下降
机种 元件高度规格 贴装头 A A1 A2
(1) JM-20 28 LNC 31.2 29.0 2.2
(2) JM-20 55 LNC 58.2 56 2.2
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3-18
3-5-2-2 吸附上升时的Z轴动作
根据元件识别方式 (LA、VCS)、有无元件检
测方式 (LA、真空)，分为 2 个行程分类。
(参照下表)
待机高度
吸附高度
2
C
C2
C1
右图表示行程分类 C。
行程分类
LA
E
识别方式
VCS C E
LA
检测有无元件
真空
1) 行程区分 C VCS识别，Va 检测 基板 XY
VCS 识别元件用真空检测有无元件时，Z 轴的吸附上升为 XY 移动高度的上升。
移动量 C＝XY 移动高度 h 吸附压入量
移动量 C1＝2 吸附压入量 h
移动量 C2＝XY 移动高度 2
2) 行程区分 E LA, VCS识别，LA 检测 基板 LA
LA 识别元件或 VCS 识别元件，用 LA 检测有无时 Z 轴的吸附上升到激光高度。
移动量 E＝激光高度 吸附压入量 t
移动量 E1＝2 吸附压入量 h
移动量 E2＝激光高度 2 t
3) 各机种的 Z 轴行程
吸附上升 吸附上升
机种 元件高度规格 贴装头 C C1 C2 E E1 E2
(1) JM-20 28 LNC 31.0 3.0 29.0 40.1 3.0 37.1
(2) JM-20 55 LNC 31.0 3.0 29.0 67.6 3.0 64.6
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3-19
3-5-2-3 LA的元件识别时的Z轴动作
VCS 识别元件检测真空元件 NG 时，为了用
LA 识别，追加 2 个行程分类。(参照下表)
识别高度
M
待机高度
右图为行程分类 M。
行程分类
LA
识别方式
VCS M I
LA
有无元件的检测
真空
1) 行程分类 M VCS识别，LA 检测 XY LA
VCS 识别元件，用真空检测有无元件为 NG 时，为了用 LA 检测有无元件，Z 轴识别上升从 XY 移
动高度上升。
移动量 M＝激光高度 － h/2 － XY移动高度
2) 行程分类 I VCS世界，LA 检测 LA XY
VCS 识别元件，用 LA 检测有无元件后的 Z 轴识别下降，为激光高度开始下降。
移动量 I＝激光高度 － h/2 － XY移动高度
3) 各机种的 Z 轴行程
识别上升 识别下降
机种 元件高度规格 贴装头 M I
(1) JM-20 28 LNC 8.1 8.1
(2) JM-20 55 LNC 11.6 11.6