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Rev 1.0 动作说明书 3-30 系数 1.25 的理由如下 ｡ 1005 电阻时， 元件尺寸 t=0.35 、 W=0.5mm ， 检测横跳起吸附的高度定为下图风习的中央时， 距离 1.25× t 较近，因此为 (0.35+0.5)/2 ≒ 1.25 × 0.35 ｡ 正常吸附 横向吸附 激光 Scan高度 目标间隙的中央 1 ） 如果元件高度的输入值与实际尺寸不同时，虽然能正常吸附但是也被退出。 2125R 时， t=0.6mm…
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3-6 芯片跳起检测
3-6-1 概要
进行芯片检测的时间是，吸附后，XY 开始移动和同时进行的激光测定后进行。芯片跳起检测是把 Z 轴
移动到被吸附的元件厚度计算出的高度，用激光进行扫描，来判定有无检测出的元件。除实施芯片跳
起检测之外，还可以用元件数据或后备数据来选择。进行芯片跳起检测之后，有可能发生因 XY 的移动
距离、吸附方法等造成循环周期推迟的现象。
3-6-2 判定方法
芯片跳起主要适用于方芯片和柱形芯片，把系数（A）加上元件数据输入的元件厚度 t 计算出的值作为
激光高度进行扫描。
短边尺寸 系数 主要元件
0.45 以上 1.25 2012、1608 元件
0.25 以上、不足 0.45 1.10 0603 元件
不足 0.25 1.25 0402 元件
元件尺寸
A×T
正常吸着 横立ち 縦立ち 斜め立ち
正常吸附 横跳起 纵跳起 斜跳起
正常吸附时，Status 0（NO Component）
作为数据被反馈，但是芯片跳起状态，因为激光遮掩元件，0
以外的 Status 被反馈，此时判定为芯片跳起，退出芯片。
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系数 1.25 的理由如下
｡
1005 电阻时，元件尺寸 t=0.35、W=0.5mm，检测横跳起吸附的高度定为下图风习的中央时，距离 1.25×
t 较近，因此为(0.35+0.5)/2≒1.25×0.35
｡
正常吸附
横向吸附
激光
Scan高度
目标间隙的中央
1） 如果元件高度的输入值与实际尺寸不同时，虽然能正常吸附但是也被退出。
2125R 时，t=0.6mm，芯片跳起 Scan 高度为 0.6×1.25=0.75
｡
激光
Scan高度
间隙
如果元件高度被错误地输入为 0.4mm 的话，Scan 高度为 0.5mm（0.4×1.25），虽然能正常虚浮，
但是也被判定为跳起，此时必须通过自动测量元件高度来输入真值。
2） 吸嘴的激光高度不同时，虽然能正常吸附，但是也判定为跳起。
把吸嘴的激光高度（Set-up 数据）设定为比正常位置低的话，此 Scan 高度就检测为能正常吸附。
吸嘴的激光高度
低设定
1.25t吸嘴上升但
是也碰不到激光
激光
Scan高度
此时，在各贴装头取得了维修模式的激光高度，请重新用安装数据的吸嘴分配方法取得吸嘴高度数
据。
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3) 有时因元件的吸附状态，被判定为跳起。例如，2125R 时，元件下面和 Scan 高度的间隙为 0.15mm
时，检测为倾斜吸附状态，因而被退出。
激光
Scan高度
此时因为固定位置有问题，需要进行纠正。
由于芯片跳起检测高度可以在各元件的元件数据中改变设定值，因而有些尺寸的元件也能够再倒向安
全侧。
〔2125R〕时
正常吸附
横向吸附
间隙中央
激光
Scan高度
上述元件尺寸计算的错误值是 1.25× t =0.75mm，如果激光对准正常吸附和横跳起吸附间隙的中央时，
则为
( t+W)/2=(0.6+1.25)/2=0.925mm。
因此，此元件，因吸附状态发生退出的话，把检测高度变更为 0.925 的话会有效果。
但是，( t+W)/2 的计算方法，并不能适用于所有的元件，请加以注意。
厚度( t )和宽度（W）尺寸相同的元件（1608C、1005C）时，（ t+W）/2= t，因此虽然能正常吸附但
是有时也被退出。
1608C 时， t=0.8mm、W=0.8mm
芯片跳起检测高度为 H=（0.8+0.8）/2=0.8mm。