IPC-7093 CN 2011 底部端子元器件(BTC)设计和组装工艺的实施.pdf - 第29页

IPC-7093-4-17-cn 图 4-17 基 本 双 排端⼦各种 布局 ڦᮠㄟᆀ⁑ᔿ ส߶$ᡆ% ㄟᆀཤ䜘 ㄟᆀཤ䜘 ส߶$ᡆ% ཷᮠㄟᆀ⁑ᔿ IPC-7093-4-18-cn 图 4-18 基 本 三 排端⼦各种 布局 ڦᮠㄟᆀ⁑ᔿ ส߶$ᡆ% ㄟᆀཤ䜘 ㄟᆀཤ䜘 ส߶$ᡆ% ཷᮠㄟᆀ⁑ᔿ IPC-7093-4-19-cn 图 4-19 各种接 触脚⼏何 尺⼨ L b e 触点 间距 0.65 0.35 0.40 0.45 0.…

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制可选外露金属散热器位置的公定,
这样差范围中心将以封装本的中心线
准。芯片是装在散热器的内表面,所
芯片产能可效地传导到主电路结
构的表面。然在封表面的
了元器件向,外露芯片连接盘(图4-15所示)
上面加小缺口或凹帮助A1
B1端子的位置。
4.2.5 JEDEC 95版物设计指南4.19 JEDEC
定义QF封装列为“塑扁平引线”错
或直多排端子。
型的代型封装结构,
QF列封装可类为在底部表面
金属端子的封装。一设
个封装列主要的形特
封装列包基于基材基于模引线框
封装。和前两相比主要的不同
详细描述了23排方形和形接端子
的要求,4-16
设计的封装端子和封本底部,所
以该封装被称
BTC引线
述,封装在底部表面的所有四个两排
端子。
一封装可有形本和对及不对
的端子图形,4-17和图4-18
定有三种触点间距(e)的变化:0.65mm0.50
mm0.40mm。定义的端子尺寸在各种间距状况
下可允许间隙供应商选择
或非统一的b L尺寸
形的封装。(4-19)。
制端子位置的公
(e)定在0.05mm
个端子图形于基AB位置的公
间距0.65mm0.50mm0.1mm,而对
间距0.4mm,公0.07mm个端子
的公差范围中心于基AB尺寸
e来定义。
个封装的尺寸封装D和封装
E来定义有文件定的尺寸D
E 0.5mm 量,其范围
4mm19
mm尺寸DE小于0.50mm
应该被称形。这些应该应
尺寸(在南中有说明)来
确保过程中的可封装的总高度
定义,但指推荐从元器件座落
面(主基材表面)开 量得到的高度不大
1.0mm。底部端子的座落面的单差是0.08
mm一公差通常被称封装端子的
。封装
部表面的公差通0.10mm。图4-
20示的QF本封装形,封装
D和封装E和总封装高度A
定义了本特
IPC-7093-4-15-cn
4-15 于确定封装元器件的⽅A1B1端⼦的
位置的外DAP上的缺
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4-16 排和QF封装图例
IPC-7093-C 20113
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IPC-7093-4-17-cn
4-17 排端⼦各种布局
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4-18 排端⼦各种布局
ڦᮠㄟᆀ⁑ᔿ
ส߶$ᡆ%
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ส߶$ᡆ%
ཷᮠㄟᆀ⁑ᔿ
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4-19 各种接触脚⼏何尺⼨
L
b
e
触点
间距
0.65 0.35 0.40 0.45 0.35 0.40 0.45
0.50 0.25 0.30 0.35 0.25 0.30 0.35
0.50
1
0.20 0.25 0.30 0.25 0.30 0.35
0.40 0.15 0.20 0.25 0.20 0.25 0.30
1
端子间隙扩大的可选变化
尺寸(mm)
bL
min. nom. max. min. nom. max.
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端子A1识符必须标示于外形图所示
中。部端子A1识符以采用模
。在底部表面的可识符封、标
金属识符等4-21中表示第一引脚
识符
4.3 QFSO封装详细说明
4.3.1 BTC封装结构用于单个
体芯片用于封装芯片4-22
BTC封装的尺寸系4个端子的2.0
mm×2.0mm到有108个端子的12mm
×12mm
封装高度可在0.4mm1.5mm间变化,然而0.8
mm1.0mm的封装高度较为普。在 BTC封装
允许多种端子间距变化但间距0.4mm0.5
mm0.65mm为普
QFSO(DF)常被装在一个蚀刻或冲
过的有0.150mm0.200mm厚金属引线框上。
位置的引线框芯片粘贴面4-23所示,底面
4-24所示。
4-23和图4-24 引线框拼尺寸75mm×
300mm,包四个区分427.0mm
IPC-7093-4-20-cn
4-20 普通QF封装外形图
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IPC-7093-4-21-cn
4-21 第⼀位置选项
斜切角端子A1标识符
圆形焊盘端子A2标识符
4-22 BTC种封装结构
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