IPC-7093 CN 2011 底部端子元器件(BTC)设计和组装工艺的实施.pdf - 第91页

7.6.2 焊料 桥 接 焊料 桥 接 是 不可接 受 的。电 气 性 能 测试 、 光学检测 (内 窥镜 ) 或 X 射线用 来 检 测桥 接 是 必 要的。焊 膏 印 刷 不 良 、不精 确 的贴 装、贴装 后 手 工 “调 整 ” 或 再流 焊时锡 溅 , 是 引 起 焊料 桥 接的 典 型 原 因 。 7.6.3 开路 焊接开路 也 是 不可接 受 的。 电 性 能 测试 的组合, 光学检验 (内 窥镜 ) 或 X-ray 检验…

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7-5 BTC散热/接地平⾯空洞标准
设计 平⾯⽆导通 平⾯导通 平⾯盖
板设计整块 50可能空洞 70可能空洞 35可能空洞
板设计分区 35可能空洞 45可能空洞 25可能空洞
板设计图形 15可能空洞 35可能空洞 15可能空洞
组件接触整块 焊盘的25A 焊盘的15A 焊盘的32.5A
组件接触分区 焊盘的32.5B 焊盘的22.5A 焊盘的37.5B
组件接触点图形 焊盘的42.5
C 焊盘的32.5B 焊盘的43.5C
注:ABC反映了设计的可产性ABC
IPC-7093-7-19-cn
7-19 已堵的散热导通上的焊膏分区与焊膏点阵
IPC-7093-7-20-cn
7-20 焊膏分区和焊膏点阵空洞X-RAY
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7.6.2 焊料 焊料不可接的。电
测试光学检测(内窥镜)X射线用
测桥要的。焊、不精的贴
装、贴装“调再流焊时锡
焊料接的
7.6.3 开路 焊接开路不可接的。
测试的组合,光学检验(内窥镜)X-ray检验
焊接开路要的。焊
、不精的贴装、贴装
“调是典
型的与组装有关的焊接开路的
基材可焊性问题开路。过大的机械压
点破裂开路。
7.6.4 再流温度曲线应该要达到
温度保证焊料并在焊盘表面有
润湿。发 焊的焊 机械
,并元器件的电气性失
切片后光学检测是检验冷焊焊最好
方法
7.6.5 缺陷相性/制程
过程
,可以采讨论过的检验方
IPC-7093-7-21-cn
7-21 焊膏印:分区()对点阵()
IPC-7093-7-22-cn
7-22 焊膏分区焊膏点阵-空洞
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和工定。在下,BTC
查是任何问题的第一线员可
BTC所有四个
观察BTC底部的焊接就必须使用X
射线光学检查(内窥镜)。这些方法用于
检查明的不比如桥接和焊。
结合的X-ray分析
定量量。用但是BTC检测
要的。件的优点是识别
不易被操员发的焊尺寸和形
小变化这些微变化元器件组装
的信用于制程并缺点
的制程缺点有关联。
7.6.6 热不分/不均匀的影响 常见的制程
问题是BTC加热加热均匀种问题
维修的时地/
面的多层板时到。问题会发
BTC元器件附近面有屏蔽元器件的面板
上,体带BTC量而影响焊料
润湿时,此问题种问题X-ray
上表为,封装底部不同位置的焊小变化
加热X-ray在封
装中心边只小范围的部分再流加热
的特征也为焊边比较粗糙,表
料部分再流但的时全润湿焊盘。
BTC对焊盘的偏移也的信偏移
X-ray像看向可能不一
7.6.7 BTC元器件可焊性 可焊使
的技术,可能会导BTC元器件
测试焊盘图形和/
布局会导要的剂相互作用
焊料接7-23和图7-24。在J-STD-002
中定义的S测试
被推荐用于BTC封装的表面贴
装过程测试
7.6.8 再流焊过程中可导
形成,锡珠是靠性差,特
细间距元器件时。
7.7 ⼯艺
7.7.1 ⼯/ BTC元器件
前用于返BGA
应该有一个分光系XY用于拆
元器件,有上下加热器的热风再流系
拆除BTC比如使用
光返不会加热到周
的元器件,而使用热风系的时影响
元器件。
于返工,标准的业步骤
印制板组件-125ºC烘烤24
印制板组件-预热125ºC
元器件焊料再流
元器件(空机器,空吸附或
子)
清洗PCB焊盘预处理
/涂覆PCB
在元器件上印
贴装并再流焊接元器件
检查
7-23 和⽬视检
7-24 过程模拟测
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