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SIPLACE Pro 4.x bis 18.0 ( R20-2) / Funktionsbeschreibung Ausgabe 11/2020 222 11.2.14.3 Kommentartexte im Data Maintenance Tool ändern Für jedes vorhandene Obj ekt im Data Maintenance Tool ist ein e Funktion hinzugefügt …
SIPLACE Pro 4.x bis 18.0 (R20-2) / Funktionsbeschreibung Ausgabe 11/2020
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11.2.14 Sonstige Anpassungen in SIPLACE Pro
11.2.14.1 Gehäuseform via Kontextmenü in der Bauelemente – Strukturansicht öffnen
Für eine schnellere Bearbeitung im SIPLACE Pro Desk, kann die Gehäuseform eines
ausgewählten Bauelements durch Klicken im Kontextmenü Bauelemente – Strukturansicht und
Auswahl des Menüpunkts Verwendete Gehäuseform öffnen geöffnet werden. Wenn die
Gehäuseform zugewiesen ist, wird sie in einem Untermenü angezeigt. Wenn nicht, wird Keine
angezeigt.
Abbildung 11-39: Verwendete Gehäuseform öffnen
11.2.14.2 Beinchengruppen im Gehäuseform-Editor duplizieren
Zur schnelleren Programmierung im Gehäuseform-Editor kann eine vorhandene Beinchengruppe
über das Kontextmenü zur Beinchengruppen-Liste in der Registerkarte Beinchengruppen zur
Gehäuseform ausgewählt und dupliziert werden. Durch Auswahl des Menüpunkts Gruppen
duplizieren wird die ausgewählte Gruppe mit einem neuen Namen in die Sammlung von
Beinchengruppen dupliziert.
Abbildung 11-40: Beinchengruppen duplizieren
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11.2.14.3 Kommentartexte im Data Maintenance Tool ändern
Für jedes vorhandene Objekt im Data Maintenance Tool ist eine Funktion hinzugefügt worden, mit
welcher der Kommentartext zu den definierten Kommentarelementen geändert werden kann. Im
Dialogfenster Text für zusätzliche Kommentare ändern kann das gewünschte
Kommentarelement von einer Auswahlliste ausgewählt werden.
Abbildung 11-41: Kommentartext ändern
Für das ausgewählte Kommentarelement kann der Text mit den Optionen Text festlegen, Text
hinzufügen oder Text ersetzen geändert werden. Wahlweise kann der Objektname zum
Kommentar hinzugefügt werden.
11.2.14.4 SIPLACE Pro Query-Tool erweitert
Eine neue Abfrage ist in der Registerkarte Line des SIPLACE Pro Query-Tools verfügbar. Mit der
Abfrage Jobs for Line werden alle Aufträge zu einem bestimmten Linienpfad angezeigt.
Abbildung 11-42: SIPLACE Pro Query-Tool – Aufträge für Linie
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11.2.14.5 Z-Höhe für Raster-Panels im Raster-Leiterplatten-Editor
Ein Offset für die Z-Richtung kann jetzt für jedes einzelne Raster-Panel auf einer Raster-
Leiterplatte hinzugefügt werden, um die zusätzliche Höhe eines Raster-Panels zu beschreiben.
Wenn der Z-Offset = 0 ist, hat das Panel auf einer Raster-Leiterplatte keine zusätzliche Höhe, d.h.
Raster-Leiterplatte-Höhe = Raster-Panel-Höhe.
Wenn der Z-Offset ≠ 0 ist, ist die gesamte Panel-Höhe = Raster-Leiterplatte-Höhe + Z-Offset.
Die Spalte Offset Z ist zur Liste Raster-Panels in der Raster-Leiterplatte hinzugefügt worden.
Abbildung 11-43: Liste Raster-Panels
Die Z-Höhe kann eingestellt werden, wenn ein Raster-Panel im Dialogfenster Raster-Panels
hinzufügen hinzugefügt wird.
Abbildung 11-44: Raster-Panels hinzufügen
Dieser Wert kann auch für mehrere ausgewählte, vorhandenen Raster-Panels im Dialogfenster
Raster-Panels ändern eingestellt oder hinzugefügt werden.