KE-2050_2060_使用说明书.pdf - 第344页

第1部基本篇第4章生产程序制作 4-66 4-3-5-2-6 检查对“芯片站立”、“共面检测”、“SOT方向检查”、“验证”、“判断异元件”进行设置。 “共面检测”(仅限于KE-2060)和“验证”、“SOT方向检查”为可选项。图 4-3-5-2-9 元件数据(检测) 1) 芯片站立指定是否对芯片站立进行检查。通常3216以下的芯片元件必须执行。由于检查是在移动中进行，所以几乎所有情况下都不需要间歇时间。 ※判定值：自动…

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8) 识别中心偏移值(仅 KE-2060 可输入)

图像定心是通过将吸取中心位置(通常是元件中心位置)移动到VCS的中心位置来进行。但象MC

M(Multi Chip Module)之类的元件，因不能吸取元件中心，如果超出VCS视角范围时，将不能

进行图像定心。此时，可通过输入如下图的偏移值(a、b)，使识别得以正常进行。

吸取中心位置＝VCS 中心位置

(俯视图)

VCS(的视角)

⇒

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4-3-5-2-6 检查

对“芯片站立”、“共面检测”、“SOT方向检查”、“验证”、“判断异元件”进行设置。

“共面检测”(仅限于KE-2060)和“验证”、“SOT方向检查”为可选项。

图 4-3-5-2-9 元件数据(检测)

1) 芯片站立

指定是否对芯片站立进行检查。通常3216以下的芯片元件必须执行。由于检查是在移动中进

行，所以几乎所有情况下都不需要间歇时间。

※判定值：自动输入根据已输入的元件高度尺寸计算出的值。激光定心时，当测定值超过此

处的设置高度时，判定为芯片站立错误。

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2) 共面检测(选项，仅限于 KE-2060)

图像定心元件时，可设置是否检查引脚(球)悬浮和错误和判定值等。共面检测将在生产时的

图像定心后立即进行。

注意

除“检查”、“判定值”、“电极亮度阈值”、“扫描偏移量”外，在

没有 JUKI 指示的情况下，请勿变更各值。如果设置错误，则将频

繁发生错误。

引脚表面状态非常有光泽时请设置为

[有光泽]，暗淡时请设置为[无光泽]。

* 此项目仅限于引脚元件可以设置。

设置测量模式。

自动设置时，按照“表

12-10-3-1 不同测量

模式的元件尺寸”表自

动设置操作模式。

激光强度。

通常请设置为“7”。

引脚（球）的悬浮极限值。

其中有一个引脚（球）超过

判定值时即为错误。

电极的宽度、长度。

初始值都设置为“0.00”。此种情况下，测量应使用：

引脚宽度按图像数据的间距设置值的 40%、

引脚长度按图像数据设置值的 50% 。

若重新另设置其他值时，则使用该值。

* 此项目仅限于引脚元件可以设置。

电极（引脚·球）的高度，用激光照射电极，根据其反射

光计算。

[电极亮度阈值]为不折损电极反射光而削减周围噪音的阈值。

通常请设置为“40”。端子较暗时设置为“20”或“30”，电极

较

亮时设

置

为

“5

”

或

“6

”。

测量位置高度

偏移量。通常请

设置为“0.00”。

设置检测位置，从引脚前端开始的距离（单位：

mm）。初始值设置为“0.00”。

注 1

* 仅引脚元件可以设置此项目。

标准

有光泽

无光泽

（注 1）：通常，请直接使用设备主机的初始值“0.00”。

设置为“0.00”时，自引脚前端 0.1mm 处为测量位置。

* 关于共面检测的详细情况，请参见“12-10 共面性处理”。

受到激光照射时的自动增量控

制。

通常请直接使用设置值“3”。

引脚表面状态非常光泽时请设置为

[有光泽]，暗淡时请设置为[无光泽]。

* 此项目仅限于引脚元件可以设置。

自动测量

标准测量

高精度测量