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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 ② 元件高度测量功能 用激光测量高度。 同时自动计算最 适合的激光高度及芯片站立判定 值。 测量方 法如 下。 表 4-5-4-2 -4 元件高度测量方法 对象元件 方式 激光识别元件 图像识别元件 1. 上下移动元件。 ↓ 2. 将元件有阴影的范围作为高度尺寸。 ③ 元件真空压力测量功能 测量吸取元件时的真空压力。测量方法如下。 表 4-5-4-2 -5 元件真空压力测量方法 对象元件 方…

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1 基本篇 4 制作生产程序
(2)测量种类
各种测量项目的功能概要示表如下。
4-5-4-2-2 测量项目功能概要
测量项目
测量内容
备注
元件尺寸(纵横)
测量实际的元件外形尺寸
元件横方向
元件纵方向
自动计算最适合的吸嘴编号
吸嘴编号
吸取时的真空压力
测量实际的元件吸取时的真空压力
元件高度
测量实际的元件高度
元件高度
自动计算最适合的激光定心值
仅限激光定心
激光高度
芯片站立判定值
引脚尺寸
测量实际的引脚尺寸 仅限图像定心
引脚间距
引脚长度
引脚尺寸/欠缺信息
1)测量项目的各种功能
元件尺寸测量功能
通过激光及识别装置测量元件的纵横尺寸。此外,同时自动计算最适合的吸嘴编号。
测量方法如下。
4-5-4-2-3 元件尺寸测量方法
对象元件
方式
激光识别元件 1. 用激光获得当前的元件角度
2.
θ
旋转到 0 度,以激光宽度作为横向尺寸
3.
θ
旋转到 90 度,以激光宽度作为纵向尺寸
图像识别元件 1.用图像识别装置识别元件获取元件外形尺寸。
2.以应答后获得的值作为纵横尺寸。
4-181
1 基本篇 4 制作生产程序
元件高度测量功能
用激光测量高度。同时自动计算最适合的激光高度及芯片站立判定值。测量方法如
下。
4-5-4-2-4 元件高度测量方法
对象元件
方式
激光识别元件
图像识别元件
1.上下移动元件。
2.将元件有阴影的范围作为高度尺寸。
元件真空压力测量功能
测量吸取元件时的真空压力。测量方法如下。
4-5-4-2-5 元件真空压力测量方法
对象元件
方式
激光识别元件
图像识别元件
1.吸取元件,获得贴片头真空压力级别。
2.将获得的值作为贴片头真空级别。
引脚信息测量功能
利用图像识别装置测量引脚信息。仅限于对图像定中心的元件进行测量。测量方法如
下。
4-5-4-2-2-6 引脚信息测量方法
对象元件 方式
图像识别元件 1.利用图像识别装置识别元件获取引脚信息。
2.将获得的值作为引脚尺寸。
4-182
1 基本篇 4 制作生产程序
2)元件种类本身的测量项目限制
因元件数据的元件种类,测量项目会受到下列限制。
4-5-4-2-7 各元件种类的测量项目限制
N
o
.
元件种类
定中心
方式
测量项目
元件尺寸
吸取真空
压力
激光
高度
引脚
信息
纵横
高度
1 方形芯片
激光
2 方形芯片
LED
激光
3 圆筒形芯片
激光
4 铝电解电容
激光
图像
5
SOT
激光
6 微调电容器
激光
7
网络电阻
激光
8 SOP
激光
图像
*1
*1
9 HSOP
激光
图像
*1
10 SOJ
激光
图像
11 QFP
激光
图像
*1
*1
12 GaAsFET
激光
图像
13 PLCC(QFJ)
激光
图像
14 PQFP(BQFP)
激光
图像
*1
*1
15 TSOP
激光
图像
*1
*1
16 TSOP2
激光
图像
*1
*1
17 BGA
激光
图像
18
FBGA
图像
19 QFN
激光
图像
20
外形识别元件
图像
21
通用图像元件
图像
22 单向引脚连接器
激光
*2
图像
*1,*2
23 双向引脚连接器
激光 *2
图像
*1
*1,*2
24 Z 引脚连接器
激光
图像
25
扩展引脚连接器
图像
26 J 引脚插座
激光
图像
27 鸥翼形插座
激光
图像
28 带减震器的插座
激光
图像
29
其他元件
激光
*1 仅限于每1列引脚在7根以上的元件。(SOP 14Pin为可检测)
*2 由相同引脚形状构成,且引脚两端没有臂、金属零件的元件。
○:可以检测。 △:可利用定中心方式设定为“图像”所得的检测结果。
引脚信息,取决于被检测元件的引脚条件,有时可能无法检测。
检测功能的对象限于元件外形尺寸□33.5mm以下的元件。
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