JX-200_使用说明书.pdf - 第446页
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 ● 变更吸取坐标的方法 当用于测量的元件的吸取位置 与实际有差异时，可以 使用示教按钮或 HOD 示教贴片坐 标。 此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。 步骤 1) 将光标移动到 X 或 Y 坐标。 步骤 2) 按下示教按钮或 HOD 装置的键，进行坐标示教，然后按 E NTER 键进行确定。 图 4-5-4-2 -2 正在示教（示教按钮时） 图 4-5-4-2 -3 正在示教（ HO…
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
（3）测量操作
1)单独测量
只对选择的元件进行测量。
① 设置单独测量的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独”后，即显示如下画面。
图 4-5-4-2-1 设置单独测量条件
a) 被检元件
显示被检元件的内容。
b) 吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代替元件及下一替代元件的吸取位置。当
没有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推送料器和示教。
● 送料
顶推一下送料器，供给元件。
● 把示教结果反映在吸取数据
选择是否将示教的结果反映到吸取数据中。不勾选此项时，坐标仅适用于此次吸取时。
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● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用示教按钮或HOD示教贴片坐
标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下示教按钮或HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4-5-4-2-2 正在示教（示教按钮时）
图 4-5-4-2-3 正在示教（HOD 时）
c) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项
目有所不同。
设定结束后，单击单独检测的“检测”，进行单独测量。
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② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中，显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置，
并依次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-4 正在进行单独检测
要强行结束
检测
时，请按下<停止>开关，则显示以下对话框。请选择是、否。
图 4-5-4-2-5 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是
放回、或是废弃。
图 4-5-4-2-6 确认是否放回元件
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