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Rev1.0 动作说明书 3-38 元件 1005 、 2125 时的系数定为 1.25 的理由如下。 1005 电阻时，元件尺寸 t ＝ 0.35 、Ｗ＝ 0.5mm ，把检测横跳起吸附的高度集中到下图间隙的中央时，接近于 1.25×t ，所以 （ 0.35 ＋ 0.5 ）／ 2 ＝ 1.25×0.35 。 正常吸附 横跳起吸附 激光 Scan高 度 瞄准缝隙的中央 １） 如果元件高度的输入值与实际尺寸不同时，虽然能正常吸附但是也被退…
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3-37
3-7. 芯片跳起检测
3-7-1．概要
进行芯片检测的时间是，吸附后，XY 开始移动和同时进行的激光测定后进行。芯片跳起检测是把 Z 轴移
动到被吸附的元件厚度计算出的高度，用激光进行扫描，来判定有无检测出的元件。除实施芯片跳起检
测之外，还可以用元件数据或后备数据来选择。进行芯片跳起检测之后，有可能发生因 XY 的移动距离、
吸附方法等造成循环周期推迟的现象。
3-7-2．判定方法
芯片跳起主要适用于方芯片和柱形芯片，把系数加上元件数据输入的元件厚度 t 计算出的值作为激光高度
进行扫描。
元件尺寸
正常吸附 横跳起 纵跳起 斜跳起
激光高度
（ 1005、2125 的系数为 1.25 时 ）
正常吸附时，无元件的数据被反馈，但是芯片跳起状态，因为激光遮掩元件，所以此时判定为芯片跳起，退
出芯片。
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元件 1005、2125 时的系数定为 1.25 的理由如下。
1005 电阻时，元件尺寸 t＝0.35、Ｗ＝0.5mm，把检测横跳起吸附的高度集中到下图间隙的中央时，接近于
1.25×t，所以
（0.35＋0.5）／2＝1.25×0.35 。
正常吸附
横跳起吸附
激光
Scan高度
瞄准缝隙的中央
１）
如果元件高度的输入值与实际尺寸不同时，虽然能正常吸附但是也被退出。
2125R 时 ｔ＝0.6mm 芯片跳起 Scan 高度为 0.6×1.25＝0.75。
间隙
激光
Scan高度
如果元件高度被错误地输入为 0.4mm 的话，Scan 高度为 0.5mm（0.4×1.25），虽然能正常吸附，但是
也被判定为跳起，此时必须通过自动测量元件高度来输入真值。
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2) 吸嘴的激光高度不同时，虽然能正常吸附，但是也判定为跳起。
把吸嘴的激光高度（Set-up 数据）设定为比正常位置低的话，此 Scan 高度就检测为能正常吸附。
吸嘴的激光高度
设定为低位。
1.25吸嘴虽然上
升芯片也不能被
激光照射。
激光
Scan高度
此时，在各贴装头取得了维修模式的激光高度，请重新用安装数据的吸嘴分配方法取得吸嘴高度数据。