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Rev1.0 动作说明书 3-39 2) 吸嘴的激光高度不同时,虽然能正常吸附,但是也判定为跳起。 把吸嘴的激光高度 ( Set-up 数据 ) 设定为比正常位置低的话,此 Scan 高度就检测为能正常吸附。 吸嘴的激光高度 设定为低位。 1.25吸 嘴虽 然上 升芯片也不能被 激光照射。 激光 Scan高 度 此时,在各贴装头取得了维修模式的激光高度,请重新用安装数据的吸嘴分配方法取得吸嘴高度数据。

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元件 10052125 时的系数定为 1.25 的理由如下。
1005 电阻时,元件尺寸 t0.35、W=0.5mm,把检测横跳起吸附的高度集中到下图间隙的中央时,接近于
1.25×t,所以
0.350.5)/21.25×0.35
正常吸附
横跳起吸附
激光
Scan高
瞄准缝隙的中央
1)
如果元件高度的输入值与实际尺寸不同时,虽然能正常吸附但是也被退出。
2125R t=0.6mm 芯片跳起 Scan 高度为 0.6×1.250.75
间隙
激光
Scan高
如果元件高度被错误地输入为 0.4mm 的话,Scan 高度为 0.5mm0.4×1.25虽然能正常吸附,但是
也被判定为跳起,此时必须通过自动测量元件高度来输入真值。
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2) 吸嘴的激光高度不同时,虽然能正常吸附,但是也判定为跳起。
把吸嘴的激光高度Set-up 数据设定为比正常位置低的话,此 Scan 高度就检测为能正常吸附。
吸嘴的激光高度
设定为低位。
1.25吸嘴虽然上
升芯片也不能被
激光照射。
激光
Scan高
此时,在各贴装头取得了维修模式的激光高度,请重新用安装数据的吸嘴分配方法取得吸嘴高度数据。
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3)
有时因元件的吸附状态,被判定为跳起。
例如,2125R 时,元件下面和 Scan 高度的间隙为 0.15mm 时,检测为倾斜吸附状态,因而被退出。
激光
Scan高度
此时因为固定位置有问题,需要进行纠正。
芯片跳起检测高度可以用各元件的元件数据变更设定值,因此可以更加倒向安全侧。
〔2125R〕
正常吸附
横跳起吸附
间隙的中央
激光
Scan高
上述元件尺寸计算的默认值是 1.23× t 0.75mm但是如果激光对准正常吸附和横跳起吸附间隙的中央
时,则为
tW)/2=(0.61.25)/20.925mm
因此,此元件,因吸附状态发生退出的话,把检测高度变更为 0.925 的话会有效果。
但是,tW)/2 的计算方法,并不能适用于所有的元件,请加以注意。
厚度 t 和宽度W尺寸相同的元件1608C1005C时,tW)/2 t,因此虽然能正常吸附但是有
时也被退出。
1608C t0.8mmW0.8mm
芯片跳起检测高度为 H=(0.80.8)/20.8mm
注)短边为 0.45mm 以下的元件,由于短变和元件高度差很小,为了防止不能检测,把系数
定为 1.1。主要用于解决 0603 电阻的跳起问题。