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EPU 使用说明书 第 4 章 制作生产程序 4- 91 ◆限制事项 HMS 如下图所 示发 光部、受光部 存 在差异, 相邻元件 的 高度较高 ,则无法正常 测量。 测量 对象 为 25 mm 以上时,要使用 H MS2 进行测量 。 100m m 20. 3mm 25m m 11. 5° 5. 75mm 投光部 受光部 发光部 受光部 受光部 发光部

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EPU 使用说明书 4 制作生产程序
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※检查、检查 2 选项卡的数据,根据元件类型等的设置状况,其输入会有限制。
元件类型
芯片
站立
异类元
件判定
吸取位
置偏差
测量贴片
基板面高度
检查贴片后
元件高度
检查贴片前
元件高度
极性
检查
可插入元
件判定
引脚矫正
元件方向
判断设定
元件插入
异常检测
方形芯片
× × ×
× ×
方形芯片(LED)
× × ×
× ×
圆筒形芯片
× × ×
× ×
铝电解电容
× × ×
× ×
SOT
× × ×
× ×
微调电容器
× × ×
× ×
网络电阻
× × ×
× ×
SOP
× × ×
× ×
HSOP
× × ×
× ×
SOJ
× × ×
× ×
QFP
× × ×
× ×
GaAsFET
× × ×
× ×
PLCC (QFJ)
× × ×
× ×
PQFP (BQFP)
× × ×
× ×
TSOP
× × ×
× ×
TSOP2
× × ×
× ×
BGA
× × ×
× ×
FBGA
× × ×
× ×
QFN
× × ×
× ×
外形识别元件
× × ×
× ×
通用图像
× × ×
× ×
单向引脚连接器
× × ×
× ×
双向引脚连接器
× × ×
× ×
Z
形引脚连接器
× × ×
× ×
扩展引脚连接器
× × ×
× ×
J
引脚插座
× × ×
× ×
鸥翼式插座
× × ×
× ×
带减震器的插座
× × ×
× ×
插入元件
×
INS 电解电容器
×
其它元件
× × ×
× ×
EPU 使用说明书 4 制作生产程序
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◆限制事项
HMS 如下图所示发光部、受光部在差异,相邻元件高度较高,则无法正常测量。
测量对象 25mm 以上时,要使用 HMS2 进行测量
100mm
20.3mm
25mm
11.
5.75mm
投光部
受光部
发光部
受光部
受光部
发光部
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(3) 贴片前测定元件高度
元件贴片前通过 HMS 对贴片上有无异物进行检查的功能
插入元件的贴片时,如果插入失败,元件可能倒在下一个进行贴片的贴片点上。在倒下元件的上
面继续进行元件贴片,会元件或吸嘴破损,为了避免这种情况而使用的功能。除插入元件以
,还可以用于在元件贴片前确认贴片上有无异物
测定检查个数的测定位置,任何测定位置超过判定值时,判定为有异物,停止生产。
判定值为对基板据的基板高度的判定值。
输入的测定位置的偏移量值,指定为距贴片点的偏移量
测定位置的偏移量值与检查的对应关系如下图所示
※要对同一元件所有贴片进行上述检查,因此会对工效造成影响。
将检查设为 []时,可以通过编辑程序的环境设置设定默认值
默认值为检查个 4、判定 1.000偏移量 X 90(%)偏移量 Y 90(%)
限制事项 1
测定点在基板的图边缘时,无法通过 HMS 正确检测。倾向为检测出比实际测定点的高度
更高的数值。
因此,请进行微调,使测定位置不要在图形的边缘。
限制事项 2
请参见贴片后元件面高度测量的 HMS 限制事项。
贴片前元件面高度测量不能使用 HMS2
画面 显示元件和检
查位置。
选择[]
设定为默认
值。
测定位置
4
测定位置
3
测定位置
1
测定位置
2
偏移量值