Magic-Ray炉后AOI使用手册-A1.pdf - 第160页
炉后 AOI 手册 160 分时统计 1） 选 择 “分 时 周期 ” （ 如 上图 中 红框 所 示内 容 ） ， 可选按 “ 半 小 时” 、 “1 小 时” 、 “6 小 时” 、 “1 2 小时 ” 或 “24 小时” 为单 位进 行分时统 计； 2） 选 择“ 显 示方 式” （如上 图中 蓝 框所示 内容 ） ， 可选 按“单 板不 良 ”或 “元件不 良 ”进 行统 计；当 选按 “单板不 良 率 ”时 ，显示 的柱 状图…
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1）缺陷分布统计：
上图中显示所选对象的汇总数据包含：元件总数、不良元件数、元件不良率、总板数、不良板数、单板不
良率、直通板、直通率（测试）、实际直通率。
上述不良统计可选：“按类型”（不良类别来进行统计）、“按元件”（按不良元件名称来统计）及按编码（按
不良元件编码来统计）。
①选择“按类型”方式：当选择“按类型”时，表示按不良类型进行排列，如缺件、少锡、开焊等，排序
按不良个数由上而下依次进行排列；
②选择“按元件”时，表示按不良元件名即元件名称进行排列，如 R1（上图中由于此板编程时未导入 CAD
数据，故元件名一栏为设备自动生成的名），排序按不良个数由上而下依次进行排列；
③当选“按编码”时，表示按不良编码进行排列，排序按同一编码不良个数由上而下依次进行排列
误报统计
此功能此功能主要作用是协助 AOI 工程师对程序进行误判分板及调试，与上述缺陷分布统计用法一样。
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分时统计
1） 选择“分时周期”（如上图中红框所示内容），可选按“半小时”、“1 小时”、“6 小时”、“12 小时”或
“24 小时”为单位进行分时统计；
2） 选择“显示方式”（如上图中蓝框所示内容），可选按“单板不良”或“元件不良”进行统计；当选按
“单板不良率”时，显示的柱状图为单板（按板数计）的分时不良率，当选按“元件不良率”时，显
示的柱状图为元件（按元件数计）的分时不良率。
上图中选的是每半小时板的不良率柱状趋势图。
任意查询
在 MYSQL 命令查询界面输入查询语句，点击“执行”进行查询
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原始数据查询
在“条码号”对话框输入要查询的条码号，点击“查询”可对此数据进行精确查询
单板查询
在此界面中可以条码或日期快速查询某一条码基板的测试情况或某一时间段的测试记录